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T/CSTM 00910-2022 高频介质基板的介电常数和介质损耗角正切测试方法 带状线测试法

T/CSTM 00910-2022 High-frequency dielectric constant and dielectric loss tangent testing method for substrate using strip line testing method

团体标准 中文(简体) 现行 页数：0页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
T/CSTM 00910-2022
标准类型
团体标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
L 电子元器件与信息技术
国际标准分类号（ICS）
31.180 印制电路和印制电路板
发布日期
2022-12-27
实施日期
2023-03-27
发布单位/组织
-
归口单位
中关村材料试验技术联盟
适用范围
范围:本文件规定了介质基板毫米波波段的介电常数和介质损耗角正切的带状线测试方法，包括原理、环境条件、材料、仪器设备、样品要求、测试步骤、计算公式、系统误差、注意事项和试验报告等内容。 本文件适用于测试高频介质基板及介电材料在微波频率范围内的介电常数和介质损耗角正切。 频率测试范围：f=1GHz~40GHz； 介电常数测试范围：ε_r'=2.0~20.0； 损耗角正切值测试范围：tan?〖δ_ε 〗?〖=2.0×10(-4)~1.0×10(-2) 〗； 温度测试范围：-50℃~150℃; 主要技术内容:本文件规定了介质基板毫米波波段的介电常数和介质损耗角正切的带状线测试方法，包括原理、环境条件、材料、仪器设备、样品要求、测试步骤、计算公式、系统误差、注意事项和试验报告等内容。本文件适用于测试高频介质基板及介电材料在微波频率范围内的介电常数和介质损耗角正切。频率测试范围：f=1GHz~40GHz ；介电常数测试范围：ε_r'=2.0~20.0；损耗角正切值测试范围：tan?〖δ_ε 〗?〖=2.0×10(-4)~1.0×10(-2) 〗；温度测试范围：-50℃~150℃

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研制信息

起草单位：
工业和信息化部电子第五研究所、电子科技大学、成都恩驰微波科技有限公司、浙江华正新材料股份有限公司、广东生益科技股份有限公司、中兴通讯股份有限公司、泰州旺灵绝缘材料厂、深圳先进电子材料国际创新研究院
起草人：
何骁、肖美珍、陈泽坚、贺光辉、周亮、余承勇、朱辉、李恩、邵伟恒、孙朝宁、王峰、王玉、魏新启、董辉、任英杰、卢悦群、葛鹰、蒋文、于淑会、罗道军
出版信息：
页数：- | 字数：- | 开本： -

内容描述

暂无内容

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