1. 当前位置：
  2. 首页 >
  3. 团体标准 >
  4. T/EDASQUARE 005-2023

T/EDASQUARE 005-2023 晶圆级电性参数测试数据格式

T/EDASQUARE 005-2023 Wafer-level electrical parameter testing data format

团体标准 中文(简体) 现行 页数：0页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
T/EDASQUARE 005-2023
标准类型
团体标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
-
国际标准分类号（ICS）
31.200 集成电路、微电子学
发布日期
2023-09-10
实施日期
2023-09-10
发布单位/组织
-
归口单位
上海电子设计自动化发展促进会
适用范围
主要技术内容:本文件规定了半导体集成电路制造中的参数电性测试数据文件，并且对文件中的数据格式、数据框架结构、数据类型、数据项设置做了定义，适用于制造类电子自动化设计软件中所涉及的参数电性测试数据。主要内容包括：数据文件的语法，框架结构，数据文件格式包括数据开头、版本信息、数据类型、应用类型、用户信息、产品信息、产品批次信息、测试环境信息、模型信息、工作模式信息、设备信息、探测信息、位置信息、结构几何信息、测试信息、参数信息、安全信息、完整性校验信息、测试数据内容、单测试项的统计信息、整体测试总统计信息，应用需求，数据文件的形式等内容

发布历史

文前页预览

当前资源暂不支持预览

研制信息

起草单位：
中国科学院微电子研究所、杭州广立微电子股份有限公司、概伦电子股份有限公司、深圳海思半导体有限公司、墨研计算科学(南京)有限公司、中芯北方集成电路制造（北京）有限公司、北京华大九天科技股份有限公司、全芯智造技术有限公司、中国电子工业标准化技术协会、鸿之微科技(上海)股份有限公司、北京大学信息技术高等研究院
起草人：
陈岚、陈弼梅、李淼、王博、沈忱、张锋、周永星、赵永林、菅端端、曹宇、肖韩、邵康鹏、章英杰、姚林、王亚丽、孟晓东、刘云举、陆梅君、王自强、石凯、张薇、刘舒宁、靳小利、董哲、孙忠、薛景星、温松辑、刘晓明、彭涛、曹荣根、陈容
出版信息：
页数：- | 字数：- | 开本： -

内容描述

暂无内容

定制服务

    推荐标准

    相似标准推荐

    更多>