T/CASAS 028-2023 Sub-6GHz GaN射频器件可靠性筛选和验收方法

ICS31.080

CCSL40/49

团体标准

T/CASAS028—2023

Sub-6GHzGaN射频器件可靠性筛选和验收

方法

ReliabilityscreeningandacceptancemethodforSub-6GHzGaN

radio-frequencydevices

版本：V01.00

2023-06-30发布2023-07-01实施

第三代半导体产业技术创新战略联盟发布

T/CASAS028—2023

目次

前言....................................................................................................................................................................III

引言....................................................................................................................................................................IV

1范围..................................................................................................................................................................1

2规范性引用文件..............................................................................................................................................1

3术语和定义......................................................................................................................................................1

4一般要求..........................................................................................................................................................2

筛选...............................................................................................................................................................2

4.1.1筛选应遵循的原则............................................................................................................................2

4.1.2筛选环境............................................................................................................................................2

4.1.3筛选操作人员....................................................................................................................................3

4.1.4对仪器设备的管理与使用................................................................................................................3

4.1.5筛选记录............................................................................................................................................3

4.1.6允许的不合格品率（PDA）............................................................................................................3

4.1.7其它需要说明的问题........................................................................................................................3

验收...............................................................................................................................................................3

4.2.1验收分类............................................................................................................................................4

4.2.2验收人员............................................................................................................................................4

4.2.3验收所用仪器设备和测试方法........................................................................................................4

4.2.4验收器件的贮存期............................................................................................................................4

4.2.5验收报告及资料................................................................................................................................4

5详细要求..........................................................................................................................................................5

筛选...............................................................................................................................................................5

5.1.1筛选程序............................................................................................................................................5

5.1.2筛选方法............................................................................................................................................6

5.1.3筛选后不合格品的处理....................................................................................................................8

验收...............................................................................................................................................................8

5.2.1验收程序............................................................................................................................................8

5.2.2代验器件的验收要求和程序...........................................................................................................11

参考文献............................................................................................................................................................12

I

T/CASAS028—2023

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规

定起草。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由北京第三代半导体产业技术创新战略联盟标准化委员会（CASAS）制定发布，版权归CASAS

所有，未经CASAS许可不得随意复制；其他机构采用本文件的技术内容制定标准需经CASAS允许；任何

单位或个人引用本文件的内容需指明本文件的标准号。

本文件主要起草单位：中国电子科技集团公司第十三研究所、北京大学、河北博威集成电路有限公

司、北京国联万众半导体科技有限公司、中兴通讯股份有限公司、西安电子科技大学、河北北芯半导体

科技有限公司、苏州能讯高能半导体有限公司、北京第三代半导体产业技术创新战略联盟。

本文件主要起草人：默江辉、吴文刚、王金延、郭跃伟、刘相伍、刘建利、郑雪峰、迟雷、裴轶、

徐瑞鹏。

III

T/CASAS028—2023

引言

Sub-6GHz频段提供了更大的连续通信带宽，满足了更高的速率，是5G网络布局的重要部分。而

Sub-6GHz频段的GaN射频器件作为至关重要的一环，其质量直接关系整个系统的可靠性，因此，制定

Sub-6GHzGaN射频器件可靠性筛选和验收方法，对提升产品质量、系统可靠性及稳定性具有重要意义。

IV

T/CASAS028—2023

Sub-6GHzGaN射频器件可靠性筛选和验收方法

1范围

本文件描述了Sub-6GHzGaN射频器件（以下简称“器件”）的可靠性筛选和验收方法。

本文件适用于射频器件的生产、测试、