T/CES 085-2021 压接型绝缘栅双极晶体管(IGBT)模块高温反偏试验规范
T/CES 085-2021 High temperature reverse bias test specification for compression type insulated gate bipolar transistor (IGBT) module
团体标准
中文(简体)
现行
页数:0页
|
格式:PDF
基本信息
标准号
T/CES 085-2021
标准类型
团体标准
标准状态
现行
发布日期
2021-09-28
实施日期
2021-09-30
发布单位/组织
-
归口单位
中国电工技术学会
适用范围
范围:本文件规定了压接型绝缘栅双极晶体管(IGBT)模块高温反偏试验的试验电路、设备要求、试验条件、试验步骤、接收判据等要求。
本文件适用于电网电力电子装置用压接型IGBT模块,其他新型IGBT模块如增强注入型IGBT(IEGT)、双模式绝缘栅晶体管(BIGT)等模块也可参照此文件;
主要技术内容:本标准适用于电网用电力电子装置用的压接型IGBT模块,其它新型IGBT模块如增强注入型IGBT(IEGT)、双模式绝缘栅晶体管(BIGT)等模块也可参照此标准。本标准介绍了压接型IGBT模块高温反偏试验的相关内容,包含适用范围、相关术语的定义、设备要求、试验流程、冷却、测试以及失效标准等技术内容。本标准考虑到了压接型IGBT模块的特殊性,对检测方法和设备要求进行更具针对性和更为详尽的规定和特殊要求,可以有效解决常规测试耗时较长、测试成本高,检测效率低等问题,对压接型IGBT模块的广泛应用提供了基础保障。主要内容如下:前言1 范围2 规范性引用文件3 术语和定义4 符号和缩略语5 试验电路6 设备要求7 试验条件8 试验步骤9 失效判据10 试验时间认定11 试验报告
发布历史
-
2021年09月
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研制信息
- 起草单位:
- 全球能源互联网研究院有限公司、北京工业大学、华北电力大学、杭州中安电子有限公司、西安美泰电气科技有限公司、株洲中车时代半导体有限公司、国网经济技术研究院有限公司
- 起草人:
- 李尧圣、陈艳芳、李翠、李金元、邓二平、郭春生、贺庭玉、季凌云、张雷、万超群、魏争
- 出版信息:
- 页数:- | 字数:- | 开本: -
内容描述
暂无内容
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