GB 50809-2012 硅集成电路芯片工厂设计规范(附条文说明)
GB 50809-2012 Code for design of silicon integrated circuits wafer fab
国家标准
中文(简体)
现行
页数:50页
|
格式:PDF
基本信息
标准号
GB 50809-2012
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2012-10-11
实施日期
2012-12-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
本规范适用于新建、改建和扩建的硅集成电路芯片工厂的工程设计
发布历史
-
2012年10月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位:
- 信息产业电子第十一设计研究院科技工程股份有限公司、信息产业部电子工程标准定额站
- 起草人:
- 王毅勃、王明云、李骥、肖劲戈、江元升、黄华敬、何武、夏双兵、陆崎、谢志雯、朱琳、刘娟、刘序忠、高艳敏、朱海英、徐小诚、刘姗宏
- 出版信息:
- 页数:50页 | 字数:- | 开本: -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- GB/Z 22202-2008 家用和类似用途的剩余电流动作断路器可靠性试验方法 2008-07-16
- GB/T 8170-2008 数值修约规则与极限数值的表示和判定 2008-07-16
- GB/Z 22201-2008 接触器式继电器可靠性试验方法 2008-07-16
- GB/Z 22203-2008 家用及类似场所用过电流保护断路器的可靠性试验方法 2008-07-16
- GB/T 8054-2008 计量标准型一次抽样检验程序及表 2008-07-16
- GB/Z 22204-2008 过载继电器可靠性试验方法 2008-07-16
- GB/T 7291-2008 图形符号 基于消费者需求的技术指南 2008-07-16
- GB/Z 22200-2008 小容量交流接触器可靠性试验方法 2008-07-16
- GB/T 8056-2008 数据的统计处理和解释 指数分布样本离群值的判断和处理 2008-07-16
- GB/T 7441-2008 汽轮机及被驱动机械发出的空间噪声的测量 2008-07-16