SJ 21451-2018 集成电路陶瓷封装圆片划片工艺技术要求
SJ 21451-2018 Integrated circuit ceramic package-Technical requirement for wafer-sawing process
行业标准-电子
中文(简体)
现行
页数:9页
|
格式:PDF
基本信息
标准号
SJ 21451-2018
标准类型
行业标准-电子
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
-
国际标准分类号(ICS)
-
发布日期
2018-01-18
实施日期
2018-05-01
发布单位/组织
-
归口单位
工业和信息化部电子第四研究院
适用范围
本标准规定了军用集成电路圆片砂轮划片工艺的一般要求和划片工艺所使用的原材料、设备、工艺流程、关键控制点及检验的详细要求。本标准适用于12英寸及以下尺寸集成电路硅圆片(不含带凸点圆片)砂轮划片工艺(以下简称划片工艺)
发布历史
-
2018年01月
研制信息
- 起草单位:
- 中国电子科技集团公司第五十八研究所
- 起草人:
- 李守委、李云海、肖汉武、朱卫良、常乾、王燕婷
- 出版信息:
- 页数:9页 | 字数:- | 开本: -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/CCCAT 009-2023 煤矿巷道工程全断面岩石掘进机(TBM)施工计价标准 2023-08-30
- T/SERA 2-2023 煤矿区地下水污染防控技术标准 2023-11-06
- T/CSTM 00355-2021 膨润土防渗衬垫老化性能试验方法 2021-07-26
- T/EJCCCSE 245-2024 大口径水平工程地质勘探用绳索取心钻具 2024-12-26
- T/CASMES 84-2022 矿用无轨运矿车驾驶室通用技术条件 2022-08-17
- T/ZTCA 015.2-2023 线性移动刀口矿浆取样器 第2部分:检测方法 1970-01-01
- T/CNCA 025-2022 井下巷道纳米吸能安全防撞装置通用技术条件 2022-08-25
- T/CSTM 00379-2020 钒钛高炉渣全铁、氧化钙、氧化镁、二氧化硅、五氧化二钒、二氧化钛、三氧化二铝、磷、硫含量的测定 波长色散型X射线荧光光谱法 2020-12-22
- T/CSTM 00380-2020 钒钛烧结矿全铁、氧化钙、氧化镁、二氧化硅、五氧化二钒、二氧化钛、三氧化二铝、磷、硫含量的测定 波长色散型X射线荧光光谱法 2020-12-22
- T/EJCCCSE 248-2024 端部扩大头成孔钻具 2024-12-26