GB/Z 28820.2-2012 聚合物长期辐射老化 第2部分：预测低剂量率下老化的程序

ICS29.035.01

K15

中华人民共和国国家标准化指导性技术文件

/—//:

GBZ28820.22012IECTS61244-21996

聚合物长期辐射老化

:

第部分预测低剂量率下老化的程序

2

—

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:

Part2Proceduresforredictinaeinatlowdoserates

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(/:,)

IECTS61244-21996IDT

2012-11-05发布2013-02-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

发布

中国国家标准化管理委员会

/—//:

GBZ28820.22012IECTS61244-21996

目次

前言…………………………Ⅲ

引言…………………………Ⅳ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3指数外推法………………1

3.1简介…………………1

3.2试验程序……………1

3.3评估和外推…………………………2

3.4局限性………………2

3.5示例…………………2

4依赖于时间的叠加数据…………………3

4.1简介…………………3

4.2试验程序……………3

4.3评估…………………3

4.4局限性………………4

4.5示例…………………4

5DED数据叠加……………5

5.1简介…………………5

5.2试验程序……………5

5.3评估…………………5

5.4局限性………………5

5.5示例…………………6

6结论………………………6

参考文献……………………20

Ⅰ

/—//:

GBZ28820.22012IECTS61244-21996

前言

/《》:

聚合物长期辐射老化由部分组成

GBZ288203

———:;

第部分监测扩散限制氧化的技术

1

———:;

第部分预测低剂量率下老化的程序

2

———:。

第部分低压电缆材料在役监测程序

3

本部分为/的第部分。

GBZ288202

本部分按照/—给出的规则起草。

GBT1.12009

/:《:

本部分使用翻译法等同采用聚合物长期辐射老化第部分预测低剂量

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