GB/T 22093-2008 电子数显内径千分尺

ICS17．040．30

J42

a目

中华人民共和国国家标准

GB／T

电子数显内径千分尺

withelectronic

Internalmicrometerdigitaldisplay

2008—06-25发布2009—01一01实施

宰瞀髁紫瓣警襻瞥鐾发布中国国家标准化管理委员会“”。

22093--2008

GB／T

刖昌

本标准的附录A、附录B均为资料性附录。

本标准由中国机械工业联合会提出。

132)归口。

本标准由全国量具量仪标准化技术委员会(SAC／TC

本标准负责起草单位：苏州麦克龙测量技术有限公司。

本标准参加起草单位：成都工具研究所。

本标准主要起草人：黄晓宾、张洪玲、姜志刚。

22093--2008

GB／T

电子数显内径千分尺

1范围

本标准规定了电子数显内径千分尺的术语和定义、型式与基本参数、要求、试验方法、检验方法、标

志与包装等。

mm，测量范围上限至500mm的

本标准适用于分辨力高于或等于0．001mm，量程小于或等于100

mm～6000

电子数显内径千分尺。测量范围500mm的电子数显内径千分尺参见附录B。

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有

的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究

是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。

GB／T1216—2004外径千分尺

ISO

286—2；1988)

GB／T1800．4—1999极限与配合标准公差等级和孔、轴的极限偏差表(eqv

2423．3～2006

GB／T电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验

60068

(IEC2—78：2001，IDT)

2423．22—2002

GB／T电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化

(IEC60068—2—14：1984，IDT)

GB4208

2008外壳防护等级(IP代码)

GB／T17163几何量测量器具术语基本术语

GB／T17164几何量测量器具术语产品术语

61000—4—2：2001，

GB／T17626．2—2006电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验(IEC

IDT)

17626．3—200661000-4-3：

GB／T电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验(IEC

2002，IDT)

3术语和定义

GB／T17163、GB／T17164中确立的以及下列术语和定义适用于本标准。

3．1

devicesformicrometer

电子数显千分尺数显装置electronicdigitalindicating

利用角度传感器、电子和数字显示技术，计算并显示电子数显千分尺的螺旋副位移的装置。以下简

称“电子数显装置”。

3．2

error

最大允许误差(MPE)maximumpermissible

由技术规范、规则等对电子数显内径千分尺规定的误差极限值。

4型式与基本参数

4．1型式

电子数显内径千分尺的型式见图1、图2。图示仅供图解说明，不表示详细结构。

22093--2008

GB／T

测量面电子煎显装置锁紧装置微分筒测量面

A1型

涮量面长度接杆电子教显装置锁紧装霹微分筒测量面

A2型

A型：电子数显2点内径千分尺，测微螺杆轴线与角度传感器的轴线和测量面的位移同轴

a)

澍量面镪紧装置电子数显装置微分筒测力装置

B型：电子数显2点内径千分尺，测微螺杆轴线与角度传感器的轴线同轴，与测量面的位移平行

b)

测量面测头电子数显装置测力装置

C型：电子数显2点内径千分尺，测微螺杆轴线与角度传感器的轴线同轴，与测量面的位移垂直

c)

图1电子数显2点内径千分尺的型式示意图

2

22093--2008

GB／T

D型：电子数显3点内径千分尺，测微螺杆轴线与角度传感器的轴线同轴，与测量面的位移垂直

a)