GB/T 31838.9-2026 固体绝缘材料 介电和电阻特性 第9部分：测定介电特性(AC方法) 相对介电常数和介质损耗因数 绝缘薄膜的接触电极法

ICS29035011722099

;

CCSK.15...

中华人民共和国国家标准

GB/T318389—2026/IEC62631-2-32024

.:

固体绝缘材料介电和电阻特性

第9部分测定介电特性AC方法

:()

相对介电常数和介质损耗因数

绝缘薄膜的接触电极法

Solidinsulatingmaterials—Dielectricandresistiveproperties—

Part9DeterminationofdielectricroertiesACmethod—Relativeermittivit

:pp()py

anddielectricdissipationfactor—Contactelectrodemethodforinsulatingfilms

IEC62631-2-32024Dielectricandresistiveroerties

(:,pp

ofsolidinsulatinmaterials—Part2-3Relativeermittivitand

g:py

dissipationfactor—Contactelectrodemethodfor

insulatinfilms—ACmethodsIDT

g,)

2026-07-30发布2027-02-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T318389—2026/IEC62631-2-32024

.:

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语定义缩略语和符号

3、、………………1

方法原理

4…………………3

电极

5………………………4

试样

6………………………5

测量电压

7…………………6

测量的环境条件

8…………………………6

试样厚度测量

9……………6

测量程序

10…………………6

报告

11………………………6

重复性再现性和可重复性

12、……………7

附录规范性修正粗糙表面试样介电常数和介质损耗因数测量结果的方法

A()……8

附录资料性电极制造建议

B()…………18

参考文献

……………………19

图三电极系统示意图

1……………………5

图试样和抛光平面电极的粗糙表面轮廓的示意图

A.1…………………8

图试样和抛光平面电极的粗糙表面的物理模型

A.2……………………9

图包含试样间隙和电极的等效电路

A.3、………………9

图测量介电常数实际介电常数孔隙率和接触率之间的关系

A.4、、…………………10

图测量的介电损耗因数真实的介电损耗因数空隙率和接触率之间的关系

A.5、、…14

表三电极系统的尺寸参数及试样厚度与测量电容之间的关系

1………5

Ⅰ

GB/T318389—2026/IEC62631-2-32024

.:

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件是固体绝缘材料介电和电阻特性的第部分已经发布了

GB/T31838《》9。GB/T31838

以下部分

:

第部分总则

———1:;

第部分电阻特性方法体积电阻和体积电阻率

———2:(DC);

第部分电阻特性方法表面电阻和表面电阻率

———3:(DC);

第部分电阻特性方法绝缘电阻

———4:(DC);

第部分电阻特性方法浸渍和涂层材料的体积电阻和体积电阻率

———5:(DC);

第部分介电特性方法相对介电常数和介质损耗因数频率

———6:(AC)(0.1Hz~10MHz);

第部分电阻特性方法高温下测量体积电阻和体积电阻率

———7:(DC);

第部分测定介电特性方法相对介电常数和介质损耗因数频率

———8:(AC)(1MHz~300MHz);

第部分测定介电特性方法相对介电常数和介质损耗因数绝缘薄膜的接触电

———9:(AC)

极法

。

本文件等同采用固体绝缘材料的介电和电阻特性第部分相对介电常

IEC62631-2-3:2024《2-3:

数和介质损耗因数绝缘薄膜的接触电极法方法

AC》。

本文件做了下列最小限度的编辑性改动

:

为与现有系列标准相协调将标准名称改为固体绝缘材料介电和电阻特性第部分测

a),《9:

定介电特性方法相对介电常数和介质损耗因数绝缘薄膜的接触电极法

(AC)》;

纳入了的内容将图中平整度由更正为

b)IEC62631-2-3:2024/COR1:2025,10.0010.0005,

图中α的数值由更正为

A.4a)0.90.09;

将仅在注和资料性附录引用的从第章调整到参考文献

c)ISO21920-22。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由中国电器工业协会提出

。

本文件由全国电气绝缘材料与绝缘系统评定标准化技术委员会归口

(SAC/TC301)。

本文件起草单位四川东方绝缘材料股份有限公司安徽源光电器有限公司泽尼斯厦门电力科

:、、()

技有限公司机械工业北京电工技术经济研究所深圳市沃尔核材股份有限公司同济大学四川东材新

、、、、

材料有限责任公司苏州太湖电工新材料股份有限公司无锡江南电缆有限公司江苏中车电机有限公

、、、

司江苏斯瑞达材料技术股份有限公司中国电力科学研究院有限公司无锡亚投电缆科技有限公司

、、、、

哈尔滨理工大学上海长园电子材料有限公司江苏宇久电缆科技有限公司浙江永久电缆有限公司

、、、、

无锡市新宇线缆有限公司江苏金陵电缆有限公司江苏兆宸新材料研发有限公司上海电器设备检测

、、、

所有限公司

。

本文件主要起草人罗春明周柯陈丹张冶文刘亚丽陈昊黄顺达申时林李杰霞胡海涛

:、、、、、、、、、、

宗璇蒋琪李华刑照亮孙皓郭智利杜卫义赵月姣周冬生沈吉李彦涛徐学敏张春琪李超伟

、、、、、、、、、、、、、、

陈韩江叶志伟邓成

、、。

Ⅲ

GB/T318389—2026/IEC62631-2-32024

.:

引言

对于绝缘应用来说测量厚度约为且无任何附加层的聚合物绝缘薄膜的相对介电

,10μm~100μm

常数和介质损耗因数δ非常重要目前测量非常薄的单层聚合物薄膜的相对介电常数和介质损耗

(tan)。

因数缺乏合适的技术和标准通过使用层层的多层聚合物薄膜叠层能得到聚合物绝缘薄膜

。20~50,

的相对介电常数和介质损耗因数的平均值但多层材料之间的气隙带来的影响不容忽视利用聚合物

,。

薄膜表面的金属化电极在实验室研究中获得了聚合物绝缘薄膜的相对介电常数和介质损耗因数的可

,

接受结果本文件提供了技术频率下测量无任何附加层或金属化的薄型聚合物绝缘薄膜的相对介电常

。

数和介质损耗因数的技术和方法

。

固体绝缘材料介电和电阻特性拟由以下十个部分构成

GB/T31838《》。

第部分总则目的在于确立固体绝缘材料介电和电阻特性测试的总体原则

———1:。。

第部分电阻特性方法体积电阻和体积电阻率目的在于描述测定固体绝缘材料

———2:(DC)。

不包括浸渍和涂层材料浇注材料体积电阻和体积电阻率的试验方法

(、)。

第部分电阻特性方法表面电阻和表面电阻率目的在于描述测定固体绝缘材料

———3:(DC)。

表面电阻和表面电阻率的试验方法

。

第部分电阻特性方法绝缘电阻目的在于描述测定固体绝缘材料绝缘电阻的试

———4:(DC)。

验方法

。

第部分电阻特性方法浸渍和涂层材料的体积电阻和体积电阻率目的在于描述

———5:(DC)。

测定浸渍和涂层类绝缘材料体积电阻和体积电阻率的试验方法

。

第部分介电特性方法相对介电常数和介质损耗因数频率目

———6:(AC)(0.1Hz~10MHz)。

的在于描述频率下测定固体绝缘材料介电特性的试验方法

0.1Hz~10MHz。

第部分电阻特定方法高温下测量体积电阻和体积电阻率目的在于描述测定温

———7:(DC)。

度不高于下固体绝缘材料体积电阻和体积电阻率的试验方法

800℃。

第部分测定介电特性方法相对介电常数和介质损耗因数频率

———8:(AC)(1MHz~300MHz)。

目的在于描述频率下测定固体绝缘材料介电特性的试验方法

1MHz~300MHz。

第部分测定介电特性方法相对介电常数和介质损耗因数绝缘薄膜的接触电极

———9:(AC)

法目的在于描述在试样表面无任何附加金属化的情况下测量厚度为的单

。10μm~100μm

层聚合物绝缘薄膜的相对介电常数和介质损耗因数的测量技术和测试方法

。

第部分测定电阻特性方法浇铸树脂的体积电阻和体积电阻率目的在于描述测

———10:(DC)。

定浇铸树脂类绝缘材料体积电阻和体积电阻率的试验方法

。

Ⅳ

GB/T318389—2026/IEC62631-2-32024

.:

固体绝缘材料介电和电阻特性

第9部分测定介电特性AC方法

:()

相对介电常数和介质损耗因数

绝缘薄膜的接触电极法

1范围

本文件描述了在试样表面无任何附加金属化的情况下测量厚度为的单层聚合物

10μm~100μm

绝缘薄膜的相对介电常数和介质损耗因数的测量技术和测试方法

。

本文件适用于或工频和频率下测量

50Hz60Hz1Hz~1MHz。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

。,

件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于

,;,()

本文件

。

塑料薄膜和薄片机械扫描测厚方法

ISO4593(Plastics—Filmandsheeting—Determinationof

thicknessbymechanicalscanning)

注塑料薄膜和薄片厚度测定机械测量法

:GB/T6672—2001(ISO4593:1993,IDT)

洁净室及相关受控环境第部分按粒子浓度分类空气洁净度

ISO14644-11:(Cleanroomsand

associatedcontrolledenvironments—Part1:Classificationofaircleanlinessbyparticleconcentration)

注洁净室及相关受控环境第部分按粒子浓度划分空气洁净度等级

:GB/T25915.1—20211:(ISO14644-1:

2015,MOD)

电气用塑料薄膜规范第部分测试方法

IEC60674-22:(Specificationforplasticfilmsforelec-

tricalpurposes—Part2:Methodsoftest)

注电气绝缘用薄膜第部分试验方法

:GB/T13542.2—20212:(IEC60674-2:2019,MOD)

3术语定义缩略语和符号

、、

31术语和定义

.

下列术语和定义适用于本文件

。

和维护的用于标准化的术语数据库网址如下

ISOIEC:

在线浏览平台

———ISO:/obp

电工百科

———IEC:http///

311

..

聚合物绝缘薄膜thininsulatingpolymerfilm

表面均匀光滑无任何附加层且厚度为的聚合物绝缘薄膜

、10μm~100μm。

312

..

交流电桥ACbridge

利用平衡方法测量电容试样在交流电压下的电容和损耗的仪器

。

1