GB/T 18210-2000 晶体硅光伏(PV)方阵I-V特性的现场测量

GB/T 18210-2000 Crystalline silicon photovoltaic(PV) array-on-site measurement of I-V characteristics

国家标准 中文简体 现行 页数:10页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
GB/T 18210-2000
相关服务
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2000-10-17
实施日期
2001-05-01
发布单位/组织
国家质量技术监督局
归口单位
全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会
适用范围
-

发布历史

研制信息

起草单位:
信息产业部电子第十八研究所 、秦皇岛市华美光电设备总公司
起草人:
由志德、李涛勇
出版信息:
页数:10页 | 字数:11 千字 | 开本: 大16开

内容描述

GBT18210-2000晶体硅光伏(PV)方阵I-V特性的现场测量

《GBT18210-2000晶体硅光伏(PV)方阵I-V特性的现场测量》描述晶体硅光伏方阵

STC

特性的现场测量及将测得的数据外推到标准测试条件()或其他选定的温度和辐照

条件下的程序。

GBT18210-2000(PV)I-V

《晶体硅光伏方阵特性的现场测量》由中华人民共和国信

息产业部提出。

GBT18210-2000(PV)I-V

《晶体硅光伏方阵特性的现场测量》由全国太阳光伏能源

系统标准化技术委员会归口。

GBT18210-2000(PV)I-V

《晶体硅光伏方阵特性的现场测量》由信息产业部电子第

十八研究院、秦皇岛市华美光电设备总公司起草。

您遇到过这样的问题吗?

两个测试设备准确度都满足国家标准要求的试验站,对同一台电机的合格判定出现

截然不同的结论?

这个问题在电机试验检测中较为普通,可能原因有多方面的因素:

1、幅值、频率、相位等精度要求与测试设备标称精度的对应条件不符;

2、测试方法不正确;

3、现场干扰对测试信号的影响;

详细内容参考:

前端数字化复杂电磁环境下的高精度测量解决方案

不同功率因数下相位误差对功率测量准确度的影响

幅值对测量准确度的影响?

准平均值真的可以替代基波有效值吗?

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产品网站www.vfe.cc

国家变频电量测量仪器计量站创建单位:

国家变频电量计量标准器的研制单位E-mail:AnyWay@vfe.cc

目次

前言

前言

范围和目的

引用标准

测量方法方法和

设备

程序

准确度

附录提示的附录术语

前言

本标准等同采用晶体硅光伏方阵特性的现场测量

本标准是太阳光伏能源系统中一项基础标准所使用的名词术语与有关标准协调一致

在与秘书处交换意见之后本标准对中错误作如下修正

辐照度和辐照度统一用符号表示

用术语标准光伏器件代替标准器件和标准器件术语标准光伏器件的定义列于附

录中

对不同场合测的开路电压加以编号

和统一为

在测量组件背表面中心温度时增加一个限定条件靠近电池处

本标准的附录是提示的附录

本标准由中华人民共和国信息产业部提出

本标准由全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会归口

本标准起草单位信息产业部电子第十八研究所秦皇岛市华美光电设备总公司

本标准主要起草人由志德李涛勇

前言

国际电工委员会是由各国家电工委员会国家委员会组成的世界性标准化组织

的目的是促进电工电子领域标准化问题的国际合作为此目的除其他活动外发布国际标准

国际标准的制定由技术委员会承担对所涉及内关切的任何国家委员会均可参加国际标准的制

定工作与有联系的任何国际政府和非官方组织也可以参加国际标准的制定与国际标准化

组织根据两组织间协商确定的条件保持密切的合作关系

在技术问题上的正式决议或协议是由对这些问题特别关切的国家委员会参加的技术委员

会制定的对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的一致意见

这些决议或协议以标准技术报告或导则形式发布以推荐的形式供国际上使用

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