SJ 21347-2018 低温器件与组件极低温度筛选试验方法
SJ 21347-2018 Cryogenic screening test method for cryogenic device and assembly
行业标准-电子
中文(简体)
现行
页数：10页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
SJ 21347-2018
标准类型
行业标准-电子
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
-
国际标准分类号（ICS）
-
发布日期
2018-01-18
实施日期
2018-05-01
发布单位/组织
-
归口单位
工业和信息化部电子第四研究院
适用范围
本标准规定了低温器件与组件极低温度筛选试验方法的一般要求和详细要求。本标准适用于低温器件与组件的极低温度筛选试验方法
发布历史
-
2018年01月
研制信息
- 起草单位：
- 中国电子科技集团公司第十六研究所
- 起草人：
- 纪斌、徐友平、贾黎、杨海明、张永清
- 出版信息：
- 页数：10页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
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