SJ 21347-2018 低温器件与组件极低温度筛选试验方法
SJ 21347-2018 Cryogenic screening test method for cryogenic device and assembly
行业标准-电子
中文(简体)
现行
页数：10页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
SJ 21347-2018
标准类型
行业标准-电子
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
-
国际标准分类号（ICS）
-
发布日期
2018-01-18
实施日期
2018-05-01
发布单位/组织
-
归口单位
工业和信息化部电子第四研究院
适用范围
本标准规定了低温器件与组件极低温度筛选试验方法的一般要求和详细要求。本标准适用于低温器件与组件的极低温度筛选试验方法
发布历史
-
2018年01月
研制信息
- 起草单位：
- 中国电子科技集团公司第十六研究所
- 起草人：
- 纪斌、徐友平、贾黎、杨海明、张永清
- 出版信息：
- 页数：10页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/CPCA 4405-2020 印制电路板用硬质合金铣刀通用规范 2020-01-10
- T/CWAN 0064-2022 手持激光焊机 2022-04-25
- T/CAMS 49-2021 数控板料折弯机用上折弯模 2021-06-04
- T/QGCML 1942-2023 激光锡球焊工艺规范 2023-10-26
- T/SZAS 61-2022 质量分级及“领跑者”评价要求 冷室压铸机 2022-11-05
- T/HNNMIA 34-2023 盾构机刮刀感应钎焊技术导则 2023-04-18
- T/TZZL 1-2018 立式加工中心装配技术条件 几何精度 2018-11-30
- T/SZMES 6-2024 铸锻一体成型机 2023-05-19
- T/BDT 002-2024 射频前端器件及模组测试设备 2024-10-09
- T/ZGWJHXH 11-2018 气动码钉打钉枪 2018-11-06