YS/T 666-2008 工业镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

YS/T 666-2008 Chemical analysis methods of gallium for industrial use—Determination of impurity elements—Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method

行业标准-有色金属 中文简体 现行 页数:6页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
YS/T 666-2008
相关服务
标准类型
行业标准-有色金属
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2008-03-12
实施日期
2008-09-01
发布单位/组织
国家发展和改革委员会
归口单位
全国有色金属标准化技术委员会
适用范围
本标准规定了工业镓中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定方法。 本标准适用于工业镓[99.9%≤ω(%)≤99.995%]中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定。测定范围见表1。

研制信息

起草单位:
中国铝业股份有限公司河南分公司、中国有色金属工业标准计量质量研究所
起草人:
梁倩、王书勤、王晓雯、张予秋、张新宇
出版信息:
页数:6页 | 字数:8 千字 | 开本: 大16开

内容描述

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中华人民共和国有色金属行业标准

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工业镓化学分析方法

杂质元素的测定

ㅤㅤㅤㅤ

电感耦合等离子体原子发射光谱法

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20080312发布20080901实施

国家发展和改革委员会发布

/—

犢犛犜6662008

工业镓化学分析方法

杂质元素的测定

电感耦合等离子体原子发射光谱法

1范围

本标准规定了工业镓中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定方法。

本标准适用于工业镓[()]中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定。测定范围

99.9%%99.995%

≤ω≤

见表。

表1

元素测定范围/%元素测定范围/%

硅-4-2镁-4-2

7×10~1×105×10~1×10

钠-4-2钙-4-2

5×10~1×105×10~1×10

钾-4-2铝-4-2

5×10~1×108×10~1×10

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有

ㅤㅤㅤㅤ

的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究

是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。

/—化学试剂杂质测定用标准溶液的制备

GBT6022002

3方法提要

试料用盐酸、硝酸溶解,在电热板加热的作用下,将样品制成溶液,于电感耦合等离子体发射光谱仪

()上测定。

ICPAES

4试剂及材料

本标准所用水均为去离子水(电阻率大于·)。

4.118MΩcm

盐酸:级或亚氟蒸馏提纯。

4.2BVⅢ

硝酸:级或亚氟蒸馏提纯。

4.3BVⅢ

标准贮存溶液:按/—配制钠、铝、镁、钙、钾、硅各元素的标准贮存溶液,其中铝、硅、

4.4GBT6022002

钾的标准贮存溶液浓度为/,钠、镁、钙的标准贮存溶液浓度均为/。

100mL1000mL

μgμg

混合标准溶液的配制:移取铝标准贮存溶液(),钠、镁、钙标准贮存溶液()各

4.54.410.00mL4.4

,加入的盐酸(),置于同一个容量瓶中,用去离子水()稀释至刻度,混匀,

1000L5mL4.2100mL4.1

μ

移入聚乙烯瓶中贮存。此溶液含钙、钠、镁、铝均为/。

10mL

μg

5仪器、装置及器具

5.1电感耦合等离子体发射光谱仪。

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