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T/BDT 002-2024 射频前端器件及模组测试设备

T/BDT 002-2024 RF Front-end Devices and Module Test Equipment

团体标准 中文(简体) 现行 页数：0页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
T/BDT 002-2024
标准类型
团体标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
-
国际标准分类号（ICS）
25.040.01 工业自动化系统综合
发布日期
2024-10-09
实施日期
2024-10-10
发布单位/组织
-
归口单位
中国半导体行业协会
适用范围
范围:本文件规定了射频前端器件及模组测试设备的产品分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本文件适用于射频前端器件及模组测试设备的设计、制造和检验; 主要技术内容:支持24射频端口器件的全自动全切换射频测试机，在满足0.5dB@0dB的校准精度的基础上实现8端口S参数和功率的自动校准，缩短校准时；间的同时减少手动校准带来误差，确保准确性S参数测量达到±0.2dB@0dB也可稳定运行，在此技术上增加同步串测，区别于测试机行业传统测试为多站并测的架构

发布历史

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研制信息

起草单位：
南京派格测控科技有限公司、南京国博电子股份有限公司、无锡卓海科技股份有限公司、宏晶微电子科技股份有限公司、无锡邑文微电子科技股份有限公司、成都市易冲半导体有限公司、弥费科技（上海）股份有限公司、江苏宝浦莱半导体有限公司、深圳前沿标准技术服务有限公司
起草人：
胡信伟、李翔、侯林、张宇、孙文彬、刘伟、汪桃红、相宇阳、汤琦、周燕、张宏达、何睿、缪峰、顾宝龙
出版信息：
页数：- | 字数：- | 开本： -

内容描述

暂无内容

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