GB/T 17554-1998 识别卡 测试方法

GB/T17554--1998

、‘

前曰

本标准等同采用国际标准ISO/IEC10373:1993识《别卡测试方法》。

本标准由中华人民共和国电子工业部提出。

本标准由电子工业部标准化研究所归口。

本标准起草单位：电子工业部标准化研究所。

本标准主要起草人：李韵琴、刘钟、聂舒、王云生、蔡怀中、冯敬。

GB/T17554-1998

ISO/IEC前言

ISO国（际标准化组织）和IEC国（际电工委员会）建立了世界范围标准化的专门系统。ISO或IEC

的国家成员团体通过由各自的组织建立的技术委员会所涉及的专门领域的技术活动，来参与国际标准

的制定。ISO和IEC技术委员会在共同感兴趣的领域合作。其他与ISO和IEC有联系的官方和非官方

的各国际组织也参与此项工作。

在信息技术领域，ISO和IEC建立了一个联合技术委员会，即ISO/IECJTC1。由联合技术委员会

提出的国际标准草案须分发给各成员团体进行表决。作为国际标准批准发行至少需要75％的成员团体

投票赞成。

国际标准ISO/IEC10373由联合技术委员会ISO/IECJTC1<信息技术）的分技术委员会SC17<识

别卡和相关设备）制定。

中华人民共和国国家标准

GB/T17554一1998

识别卡测试方法idtISO/IEC10373；1993

Identificationcards-Testmethods

1范围

本标准描述了GB/T14916,GB/T15120,GB/T17552和GB/T16649所规定的识别卡的测试方

验收标准不形成本标准的内容，但可以在上述标准中找到。

本标准所述的测试方法是可以单独完成的。指定的卡不需要顺序进行所有的测试。

2引用标准

下列标准中所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本

均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。

GB/T131-1993机械制图表面粗糙度符号、代号及其注法e（qvISO1302:1992)

GB/T14916-1994识别卡物理特性i（dtISO/IEC7810:1985)

GB/T15120.3-1994识别卡记录技术第3部分：ID-1卡上凸印字符的位置i（dtISO7811-

3：1985)

GB/T15120.4-1994识别卡记录技术第4部分：只读磁道的第1磁道和第2磁道的位置

(idtISO7811-4：1985)

GB/T15120.5-1994识别卡记录技术第5部分：读写磁道的第3磁道的位置i（dtISO7811-

5：1985)

GB/T16649.1-1996识别卡带触点的集成电路卡第1部分：物理特性i（dtISO7816-1:

1987)

GB/T16649.2-1996识别卡带触点的集成电路卡第2部分；触点的尺寸和位置i（dtISO

7816-2：1988)

GB/T17552-1998识别卡金融交易卡i（dtISO/IEC7813:1995)

ISO5-1:1984摄影技术密度测量第1部分：术语、符号和记法

ISO5-2:1991摄影技术密度测量第2部分：透射密度的线性条件

ISO5-3:1984摄影技术密度测量第3部分：光谱条件

ISO105-E04:1989纺织品色牢度试验第E04部分：耐汁渍色牢度

ISO1817:1985硬橡胶确定对液态的影响

ISO1880:1979用轮廓法表面粗糙测量仪递进式轮廓变形的触电指（针）仪器轮廓记录仪

ISO7811-1:1993识别卡记录技术第1部分：凸印

ISO7811-2;1993识别卡记录技术第2部分：磁条

ISO9227:1990人工环境中的浸蚀试验盐雾

国家质量技术监督局1998一11一05批准1999一06一01实施

GB/T17554-1998

IEC512-2:1976电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第2部分：一般检查、接触电

阻测试、绝缘试验和电应力试验

3定义

下列定义适用于本标准。

3.1测试方法testmethods

为了证明识别卡符合标准而对其特性进行测试的方法。

4测试环境和条件

除非另外规定，测试应在温度为23℃士3'C、相对湿度为40％-60％的环境中进行。在测试之前识

别卡应在上述同等环境条件下放置24ho

5测试方法

5.1卡的翘曲

本测试旨在测量卡试样中的翘曲程度见（GB/T14916).

卡的翘曲是卡的平坦性的任意变形。

5.1.1无凸字卡和凸字卡的总翘曲

5.1.1.1设备

最小精确度为0.01mm的轮廓投影仪或测量设备。

5.1.1.2规程

将待测试样品卡放在测量设备的水平刚性平台上。卡的边沿应搁置在该平台上卡（的翘曲对平台成

凸形）。

从卡的正面测量，在比例尺放大镜上读出最大位移点处的卡的翘曲值。

5.1.1.3结果

最大位移点处的翘曲范围值见（图1),

尺寸刻度

卡的轮廓

图1翘曲测量投影设备图示

5.1.2无凸字卡与凸字卡磁条区域的翘曲

5.，．2.1设备

a)一块按照GB/T131表面粗糙度应不大于3.2pm的水平刚性平台。该平台应含有一个使千分

尺的探头能伸入的小孔，见图2;

GB/T17554-1998

参考平面

千分尺

精（度为2.51An)

图2测量配置

b）一个精度为2.5,m的千分尺，上面有探头，探头的接触区是一个直径为3mm至8mm范围的

半圆球。探头的外压力为f=0.6N士0.3N;

c）施加一个F=2.2N均匀分布相对于磁条区域的卡的正面上力的方法见（图2)a

注3:2.2N的负荷应增加一个.f量，以抵消千分尺作用于其反方向的力。

5.1.2.2规程

将被测试样品卡正面向上放在水平刚性平台上。将要测试的磁条区域置于小孔上。将一个力F

<+.f）直接施加于磁条区域对应的卡的正面上。在进行测量前等待1min。如图3所示，沿着磁条在9个

位置点上测试卡片磁条区域的翘曲。

5.1.2.3结果：测量的最大值。

实际比例

尺寸以rn二为单位

10.00

磁条区域尺寸X,mm一－十－－一＋－十一－十一﹁－－一尸＋一1＋1＋－一－＋．

磁道1和28.00

磁道1,2和310.70

图3卡上的测量点

5.2卡的尺寸

本测试旨在测量无凸字卡测试样品的高度、宽度及厚度见（GB/T14916)0

5.2.1卡的厚度测量

5.2.1.1设备

一个带有平坦砧和直径在3mm至8mm范围内的轴心的千分尺。

5.2.1.2规程

用千分尺在四个点上测量卡的厚度，在卡的四个象限中各有一个点象（限的位置见图4),测量应在

GB／T17554一1998

卡的签字区、磁条或触点集（成电路卡）区或任何其他凸起区域之外的某些位置上进行。千分尺的力应为

3．SN至5．gN。

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图4象限分配

5．2．1．3结果

应将4项测量的最大值和最小值与标准值比较。

5．2．2卡的高度和宽度测量

5．2．2．1设备

一块按照GB／T131表面粗糙度应不大于3．2拌m的水平刚性平台。一个精度为2．5拌m的轮廓投

影仪或具有同样精度的合适测量设备。一个2．ZN士0．ZN的负荷。

5．2．2．2规程

待测试样卡应放在水平刚性平台上，而且在2．ZN士0．ZN负荷下整平。采用轮廓投影仪测量卡的

高度和宽度。

5，2．2．3结果

将测量所获得的值与GB／T14916中列出的值相比较。

5．3字符凸印的起伏高度

本测试旨在测定样品卡中压印字符表面的总高度和凸起高度见（5107811一1）。

凸印字符的凸起高度是对卡表面由于凸起而升高的程度。

5．3。1设备

见as．2．1卡的厚度测量”。

5．3．2规程

用千分尺，施加一个3．SN至5．gN的力来测量任何一个字符的凸起高度。

5。3．3结果

总高度是经测试得到的直接测量值。凸起高度是通过减去卡的厚度计算出来的，其厚度是按相应象

限见（图4）测量，直接从整个高度得到的测量值。

5．4磁条高度和表面断面

本测试旨在测定磁条高度及表面断面见（5107811一2）。磁条的位置定义在GB／T15102。4和

GB／Ti512o．5中的规定。

磁条高度的定义与卡和磁条表面断面有关。

5．4．1设备

表面光洁度断面仪（图5示）。

Gs1T17554-1998

5.4.2规程

传感器

图5磁条高度和断面的测量设备

磁条高度及表面断面及其周围的卡表面均应以测量记录仪加以测量。

测试卡应按图6规定固定在带槽口的刚性平台。该平台施加一个2.2N士。.1N的力。

注4：可以用任何刚性金属板。板的厚度取决于可获得2.2N1O.1N力的材料。板的所有尺寸公差为士0.5mm,

用一个半径为。.38mm至2.54mm的探头，以最大速度为1mm/s,断面压力为0.5mN至6mN,

对断面进行测量。

实际比例

尺寸以mm为单位

15.00

至15.00

．

（）

(D00

浮0

N．．

OJ

卜

N

亡V

囚

10.00至15.00

42.00

84.00

图6卡的固定板接（触区）

三次测量是在每个样品的磁条宽度上进行，三个位置V,X,Y被定义为在距离卡的每一端15mm

十2mm及其卡的中心线上见（图7)0

测量的起始点沿V,X.Y每条线从磁媒体顶边向上最小1mm处开始，在磁媒体底边向下最小

1mm处结束。

Gs/T17554-1998

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实际比例

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图7磁条断面测量位置

当测量线穿越集成电路触点区时，应使用不穿越集成电路触点区的一条最接近平行线的平行线Z

作为一个替代线磁（条高度的测量，见“5.4.4磁条的高度”）。

样品卡断面如图8和图9所示。最大垂直偏差a（)定义为磁媒体上离基本测量线最远的点到基本测

量线垂直距离。

磁条区

a＝最大垂直偏差

b=1mm最（小）

w=ISO7811-2规定的最

小磁条宽度

基本测量线

图8凹磁条断面

磁条区a

a＝最大垂直偏差

b1mm最（小）

w！按ISO7811-2规定的

最小磁条宽度

基本测量线

图9凸磁条断面

GBJT17554一1998

5.4.3磁条的表面断面

5.4.3.1规程

沿着V,X,Y线见（图7)进行测量，首先通过连接界定磁媒体边缘的顶部的点见（图8)和底部的点

见（图9)而形成基本测量线见（图8和图9)(示出了测量线与磁媒体上最大峰值和谷值间的最大垂直距

离）。最大垂直偏差{a)定义磁媒体上离基本测量线最远的点到基本测量线的垂直距离。

5.4-3.2结果

全部三次测量应该符合卡验收的断面准则。

5.4.4磁条高度

5.4.4.1规程

沿着如图10和图11所示的X,V和Y如（果Y线跨过集成电路触点区或用Z线）进行测量，基本测

量线是通过连接端点和终结点见（图10和图11)而形成的。最大垂直偏差h（)定义为磁媒体上离基本测

量最远的点到基本测量线的垂直距离。

5.4.4.2结果

全部三次测量应符合卡验收的断面标准。

5．5磁条表面粗糙度

本测试旨在测定磁条的粗糙程度见（IS