SJ/T 11586-2016 半导体器件10KeV低能X射线总剂量辐照试验方法
SJ/T 11586-2016 The method for testing the total radiation exposure of semiconductor devices to 10KeV low-energy X-rays
行业标准-电子
简体中文
现行
页数：12页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
SJ/T 11586-2016
标准类型
行业标准-电子
标准状态
现行
发布日期
2016-01-15
实施日期
2016-06-01
发布单位/组织
工业和信息化部
归口单位
工业和信息化部电子工业标准化研究院
适用范围
-
发布历史
-
2016年01月
研制信息
- 起草单位：
- 工业和信息化部电子第五研究所
- 起草人：
- 罗宏伟、何玉娟、恩云飞 等
- 出版信息：
- 页数：12页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
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