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T/ZAQ 10113-2022 半导体器件间歇工作寿命试验设备

T/ZAQ 10113-2022 Semiconductor device intermittent operation life test equipment

团体标准 中文(简体) 现行 页数：0页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
T/ZAQ 10113-2022
标准类型
团体标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
L 电子元器件与信息技术
国际标准分类号（ICS）
17.040.30 测量仪器仪表
发布日期
2022-10-14
实施日期
2022-10-20
发布单位/组织
-
归口单位
浙江省质量协会
适用范围
主要技术内容:本文件规定了半导体器件间歇工作寿命试验设备（以下简称寿命试验设备）的术语和定义、基本参数、技术要求、试验方法、检验规则、标志、使用说明书、包装、运输和贮存

发布历史

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研制信息

起草单位：
杭州高坤电子科技有限公司、深圳基本半导体有限公司、浙江大学电气工程学院、士兰微电子股份有限公司、捷捷半导体有限公司、上海季丰电子股份有限公司、北京中科新微特科技开发股份有限公司、杭州电子科技大学、中国计量大学
起草人：
胡久恒、代凯旋、周恺超、史少礼、许静、连加俤、和巍巍、罗皓泽、钱清友、邹光炜、潘子升、夏姚忠、丁兆达、王永乐、李俊
出版信息：
页数：- | 字数：- | 开本： -

内容描述

暂无内容

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