YS/T 1768-2025 硅多晶生产用石墨制品表面杂质含量的测定 电感耦合等离子体光谱法
YS/T 1768-2025 Determination of Surface Impurity Content of Graphite Products Used for Silicon Polycrystalline Production by Inductively Coupled Plasma Spectroscopy
行业标准-有色金属
简体中文
现行
页数：0页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
YS/T 1768-2025
标准类型
行业标准-有色金属
标准状态
现行
发布日期
2025-04-10
实施日期
2025-11-01
发布单位/组织
工业和信息化部
归口单位
-
适用范围
适用于硅多晶生产用石墨制品中表面杂质元素含量的测定。
发布历史
-
2025年04月
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研制信息
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- 起草人：
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- 出版信息：
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内容描述
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