GB/T 22319.6-2023 石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性(DLD)的测量

ICS31.140

CCSL21

中华人民共和国国家标准

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GBT22319.62023IEC60444-62021

石英晶体元件参数的测量

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第部分激励电平相关性的测量

6DLD

—

Measurementofuartzcrstalunitarameters

qyp

:()

Part6MeasurementofdriveleveldeendenceDLD

p

(:,)

IEC60444-62021IDT

2023-09-07发布2024-01-01实施

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

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GBT22319.62023IEC60444-62021

目次

前言…………………………Ⅲ

引言…………………………Ⅳ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

4DLD效应…………………1

4.1频率和电阻的可逆变化……………1

4.2频率和电阻的不可逆变化…………1

4.3DLD效应的原因……………………2

5DLD测量的激励电平……………………2

6试验方法…………………3

()………………………

方法快速标准测量方法

6.1A3

()……………………

方法多电平基准测量方法

6.2B4

()…………………

附录规范性石英晶体元件的激励电平和机械位移之间的关系

A6

():……………………

附录规范性方法使用振荡器法测量

BCDLD8

参考文献……………………12

图电阻或随激励电平相关性变化的最大允许电阻比………

1RR3

1213

图B.1振荡器中的晶体元件的接入………………………8

图B.2晶体元件损耗电阻随耗散功率的变化关系………8

图石英晶体元件的特性…………

B.3Rr9

图B.4电路系统方框图…………………10

图B.5在扫描激励电平范围内建立的-Rosc……………10

图B.6在本附录试验中将-R=70Ω作为试验限值时石英晶体元件的激励电平特性…………10

osc

图方法测量电路原理图…………

B.7C11

Ⅰ

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前言

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