GB/T 22319.8-2025 石英晶体元件参数的测量 第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具
GB/T 22319.8-2025 Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 8:Test fixture for surface mounted quartz crystal units
基本信息
发布历史
-
2008年08月
-
2025年12月
文前页预览
研制信息
- 起草单位:
- 唐山国芯晶源电子有限公司、北京晨晶电子有限公司、泰晶科技股份有限公司、南京中电熊猫晶体科技有限公司
- 起草人:
- 杨铁生、宫桂英、孙晓明、高志祥
- 出版信息:
- 页数:16页 | 字数:23 千字 | 开本: 大16开
内容描述
ICS31140
CCSL.21
中华人民共和国国家标准
GB/T223198—2025/IEC60444-82016
.:
代替GB/T223198—2008
.
石英晶体元件参数的测量
第8部分表面贴装石英晶体元件用
:
测量夹具
Measurementofquartzcrystalunitparameters—
Part8Testfixtureforsurfacemounteduartzcrstalunits
:qy
IEC60444-82016IDT
(:,)
2025-12-31发布2026-07-01实施
国家市场监督管理总局发布
国家标准化管理委员会
GB/T223198—2025/IEC60444-82016
.:
前言
本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定
GB/T1.1—2020《1:》
起草
。
本文件是石英晶体元件参数的测量的第部分已经发布了以下
GB/T22319《》8。GB/T22319
部分
:
第部分激励电平相关性的测量
———6:(DLD);
第部分石英晶体元件活性跳变的测量
———7:;
第部分表面贴装石英晶体元件用测量夹具
———8:;
第部分石英晶体元件寄生谐振的测量
———9:;
第部分采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准
———11:
方法
。
本文件代替石英晶体元件参数的测量第部分表面贴装石英晶体元件
GB/T22319.8—2008《8:
用测量夹具与相比除结构调整和编辑性改动外主要技术变化如下
》,GB/T22319.8—2008,,:
测量频率由扩展为见第章
a)1MHz~150MHz1MHz~1200MHz(1);
增加了反射法测量包括反射法测量系统的校准见
b),(6.3,7.3)。
本文件等同采用石英晶体元件参数的测量第部分表面贴装石英晶体元件
IEC60444-8:2016《8:
用测量夹具
》。
本文件增加了术语和定义一章
“”。
本文件做了下列最小限度的编辑性改动
:
将勘误为见
———“50Ω±5%”“50×(1±0.05)Ω”(6.1)。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任
。。
本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出
。
本文件由全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会归口
(SAC/TC182)。
本文件起草单位唐山国芯晶源电子有限公司北京晨晶电子有限公司泰晶科技股份有限公司
:、、、
南京中电熊猫晶体科技有限公司
。
本文件主要起草人杨铁生宫桂英孙晓明高志祥
:、、、。
本文件及其所代替文件的历次版本发布情况为
:
年首次发布为
———2008GB/T22319.8—2008;
本次为第一次修订
———。
Ⅰ
GB/T223198—2025/IEC60444-82016
.:
引言
本文件用于无引线表面贴装石英晶体元件的测量夹具是用于测量无引线表面贴装石英晶体元件
,
串联谐振频率串联谐振电阻和等效电路参数的测量夹具的技术规范根据规定的
()、()。IEC60444-5
采用自动网络分析技术和误差校正确定等效参数的方法本文件提出了无引线表面贴装石英晶体元件
,
测量夹具的设计建议
。
本文件的频率测量范围为如使用物理负载电容则测量范围限于
1MHz~1200MHz。,1MHz~
采用结合误差校正技术的测量夹具频率的测量准确度为-6谐振电阻的准确度为
30MHz。,10,±2Ω
或
±10%。
石英晶体元件参数的测量拟由以下部分构成
GB/T22319《》。
第部分用型网络零相位法测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法目的在
———1:π。
于规定测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法及适用的测量网络
。
第部分测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法目的在于规定测量石英晶体元件动态
———2:。
电容的方法
。
第部分频率达石英晶体元件负载谐振频率和负载谐振电阻RL的测量方法及其
———4:30MHz
他导出参数的计算目的在于规定用加载物理负载电容测量石英晶体元件负载谐振频率等参
。
数的方法
。
第部分采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法目的在于规定采用网
———5:。
络分析技术并用线性等效电路确定石英晶体元件参数的测量方法
。
第部分激励电平相关性的测量目的在于规定用型网络或振荡器法测量石英晶
———6:(DLD)。π
体元件的方法
DLD。
第部分石英晶体元件活性跳变的测量目的在于规定在温度范围内石英晶体元件活性跳
———7:。
变的测量方法
。
第部分表面贴装石英晶体元件用测量夹具目的在于规定精确测量无引线表面贴装石英
———8:。
晶体元件谐振频率电阻和等效电路参数用的测量夹具
、。
第部分石英晶体元件寄生谐振的测量目的在于规定用自动网络分析技术和用电阻法测
———9:。
量石英晶体元件寄生无用谐振的方法
()。
第部分采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方
———11:
法目的在于规定不加载物理负载电容测量石英晶体元件负载谐振频率及标称频率时有效负
。
载电容的方法
。
Ⅱ
GB/T223198—2025/IEC60444-82016
.:
石英晶体元件参数的测量
第8部分表面贴装石英晶体元件用
:
测量夹具
1范围
本文件规定了适用于所有部分定义的无引线表面贴装石英晶体元件的测量夹具这
IEC61837()。
些测量夹具按照规定的测量技术测量串联谐振频率串联谐振电阻和等效电路参数
IEC60444-5,()、()
和负载谐振频率和负载谐振电阻是在和中确定的
L1、C1C0,IEC60444-4IEC60444-11。
本文件规定了两种测量装置
。
采用的网络零相位技术频率达的传输法测量夹具该夹具包括可
a)IEC60444-1π,500MHz。
选的方法加载物理负载电容测量负载谐振参数的频率达根据负载
,,30MHz。IEC60444-4,
电容为或更高本文件还规定了测量系统和C片的校准
10pF,L。
基于反射法测量技术频率范围达的测量夹具不加载物理负载电容其负载谐
b),1200MHz。。
振参数是用的方法测量的
IEC60444-11。
2规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文
。,
件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于
,;,()
本文件
。
石英晶体元件参数的测量第部分采用自动网络分析技术和误差校正确定等效
IEC60444-55:
电参数的方法
(Measurementofquartzcrystalunitsparameters—Part5:Methodsforthe
determinationofequivalentelectricalparametersusingautomaticnetworkanalyzertechniquesand
errorcorrection)
3术语和定义
本文件没有需要界定的术语和定义
。
4技术要求
用于测量谐振频率谐振电阻和等效电路参数的测量夹具和测量方法应由晶体元件的供应商和用
、
户在合同中规定由于石英晶体元件无引线因此需要给予特殊的考虑尤其是负载谐振参数待定时
。,,。
5无引线表面贴装石英晶体元件
51外壳
.
对外壳类型无特殊要求但建议使用所有部分所示图样
。IEC61837()。
1
定制服务
推荐标准
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