SJ/T 2658.9-2015 半导体红外发射二极管测量方法 第9部分：辐射强度空间分布和半强度角
SJ/T 2658.9-2015 Measurements of Semiconductor Infrared Emitting Diodes - Part 9: Spatial Distribution of Radiation Intensity and Half-Power Beam Angle
行业标准-电子
简体中文
现行
页数：5页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
SJ/T 2658.9-2015
标准类型
行业标准-电子
标准状态
现行
发布日期
2015-10-10
实施日期
2016-04-01
发布单位/组织
工业和信息化部
归口单位
工业和信息化部电子工业标准化研究院
适用范围
-
发布历史
-
2015年10月
研制信息
- 起草单位：
- 工业和信息化部电子工业标准化研究院
- 起草人：
- 张戈、赵英
- 出版信息：
- 页数：5页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- NB/T 11055-2023 交直流混合配电网继电保护技术要求 2023-02-06
- NB/T 11052-2023 高压直流断路器控制保护技术导则 2023-02-06
- NB/T 11056-2023 继电保护测试仪自动检测装置校准规范 2023-02-06
- NB/T 11060-2023 高海拔地区架空输电线路绝缘子并联间隙通用技术条件 2023-02-06
- NB/T 11053-2023 自动快速负荷转供装置技术要求 2023-02-06
- NB/T 11059-2023 高海拔现场用标准雷电冲击电压发生装置通用技术条件 2023-02-06
- NB/T 11057-2023 变压器冷却控制保护装置技术要求 2023-02-06
- NB/T 11054-2023 防孤岛保护装置技术规范 2023-02-06
- NB/T 10341.4-2023 水电工程启闭机设计规范 第4部分：液压启闭机设计规范 2023-12-28
- NB/T 11061-2023 高海拔地区交流架空输电线路绝缘子串鸟粪闪络人工模拟试验方法 2023-02-06