YS/T 679-2018 非本征半导体中少数载流子扩散长度的测试 表面光电压法
YS/T 679-2018 The test of minority carrier diffusion length in non-intrinsic semiconductor using surface photovoltage method
行业标准-有色金属
简体中文
现行
页数：25页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
YS/T 679-2018
标准类型
行业标准-有色金属
标准状态
现行
发布日期
2018-10-22
实施日期
2019-04-01
发布单位/组织
工业和信息化部
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
2008年03月
-
2018年10月
研制信息
- 起草单位：
- 起草人：
- 出版信息：
- 页数：25页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
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