GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范
GB/T 4589.1-2006 Semiconductor devices—Part 10:Generic specification for discrete devices and integrated circuits
国家标准
中文简体
现行
页数：34页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 4589.1-2006
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2006-10-10
实施日期
2007-02-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体器件标准化技术委员会
适用范围
本规范构成国际电工委员会电子元器件质量评定体系（IECQ）的一部分。
本规范是半导体器件（分立器件和集成电路，包括多片集成电路，但不包括混合电路）的总规范。
本规范规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序，并给出了下述方面的总原则：
——电特性测试方法；
——气候和机械试验；
——耐久性试验。
注:当存在已批准的、适用于特定的一种或几种器件类型的分规范、族规范和空白详细规范时，必须用这些规范来补充本规范
发布历史
-
2006年10月
研制信息
- 起草单位：
- 中国电子技术标准化研究所(CESI)
- 起草人：
- 罗发明、陈裕昆、金毓铨
- 出版信息：
- 页数：34页 | 字数：63 千字 | 开本： 大16开
内容描述
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