GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范

GB/T 4589.1-2006 Semiconductor devices—Part 10:Generic specification for discrete devices and integrated circuits

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基本信息

标准号

GB/T 4589.1-2006

标准类型

国家标准

标准状态

现行

中国标准分类号（CCS）

L40/49 半导体分立器件

国际标准分类号（ICS）

31.080.01 半导体器分立件综合

发布日期

2006-10-10

实施日期

2007-02-01

发布单位/组织

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

归口单位

全国半导体器件标准化技术委员会

适用范围

本规范构成国际电工委员会电子元器件质量评定体系（IECQ）的一部分。本规范是半导体器件（分立器件和集成电路，包括多片集成电路，但不包括混合电路）的总规范。本规范规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序，并给出了下述方面的总原则： ——电特性测试方法； ——气候和机械试验； ——耐久性试验。注:当存在已批准的、适用于特定的一种或几种器件类型的分规范、族规范和空白详细规范时，必须用这些规范来补充本规范