T/CESA 1119-2020 人工智能芯片面向云侧的深度学习芯片测试指标与测试方法

团体标准中文(简体) 现行页数：0页 | 格式：PDF

标准号

T/CESA 1119-2020

标准类型

团体标准

标准状态

现行

中国标准分类号（CCS）

L 电子元器件与信息技术

国际标准分类号（ICS）

31.200 集成电路、微电子学

发布日期

2020-10-30

实施日期

2020-11-10

发布单位/组织

归口单位

中国电子工业标准化技术协会

适用范围

主要技术内容:本文件规定了对云侧深度学习芯片进行功能、性能测试的测试指标、测试方法和要求，适用于云侧深度学习芯片。本文件只规定云侧深度学习芯片基准测试的一般原则。本文件适用于第三方机构对云侧深度学习芯片进行性能测试与评估,也适用于云侧深度学习芯片产品的采购、设计。云侧芯片并不必须具备训练能力

当前资源暂不支持预览

起草单位：: 中国电子技术标准化研究院、华为技术有限公司、上海依图网络科技有限公司、中国科学院计算技术研究所、清华大学、中科寒武纪科技股份有限公司、上海熠知电子科技有限公司、阿里巴巴平头哥半导体有限公司、北京百度网讯科技有限公司、上海阵量智能科技有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、第四范式(北京)科技有限公司和北京芯可鉴科技有限公司

起草人：: 宋博伟、任翔、赵鑫、钟伟军、陶梦蝶、刘畅、刘音、曹晓琦、袁圆、李强、许源、赵春昊、刘亦珩、韩银和、李威、全振宇、汪玉、葛广君、恽超、程新超、张震宁、张文蒙、梁枭、罗航、吴庚、刘勇、陆坚、王一鹤、王梦硕、钟明琛

暂无内容

更多>

T/CESA 1119-2020 人工智能芯片 面向云侧的深度学习芯片测试指标与测试方法