T/CSTM 00990-2023 毫米波频段介电常数和介质损耗角正切测试方法 准光腔法
T/CSTM 00990-2023
基本信息
发布历史
-
2023年04月
研制信息
- 起草单位:
- 工业和信息化部电子第五研究所、电子科技大学、中兴通讯股份有限公司、成都恩驰微波科技有限公司、广东生益科技股份有限公司、浙江华正新材料股份有限公司
- 起草人:
- 何骁、肖美珍、陈泽坚、余承勇、宁敏洁、朱辉、方贵练、方树森、王峰、聂富刚、高冲、董辉、任英杰、卢悦群、刘潜发、葛鹰、孙朝宁、李恩、贺光辉、罗道军
- 出版信息:
- 页数:14页 | 字数:- | 开本: -
内容描述
ICS31.180
CCSL30
团体标准
T/CSTM00990—2023
毫米波频段介电常数和介质损耗角正切测
试方法准光腔法
Testmethodfordielectricconstantanddielectriclosstangentinmillimeterwave
frequencyrange—Quasi-opticalcavitymethod
2023-04-07发布2023-07-07实施
中关村材料试验技术联盟发布
T/CSTM00990—2023
目次
前言................................................................................................................................................................2
引言................................................................................................................................................................3
1范围................................................................................................................................................................4
2规范性引用文件............................................................................................................................................4
3术语和定义....................................................................................................................................................4
4符号和缩略语................................................................................................................................................4
5原理................................................................................................................................................................5
6环境条件........................................................................................................................................................5
7仪器设备........................................................................................................................................................5
8样品要求........................................................................................................................................................6
9测试步骤........................................................................................................................................................6
9.1样品预处理.............................................................................................................................................6
9.2仪器准备.................................................................................................................................................6
9.3样品尺寸测量.........................................................................................................................................6
9.4常温测试.................................................................................................................................................6
9.5高温测试.................................................................................................................................................6
9.6低温测试.................................................................................................................................................7
10计算..............................................................................................................................................................7
10.1介电常数温度系数...............................................................................................................................7
10.2介质损耗角正切温度系数...................................................................................................................7
11系统误差......................................................................................................................................................8
12注意事项......................................................................................................................................................8
13试验报告......................................................................................................................................................8
附录A(资料性)介电常数和介质损耗角正切测试原理...........................................................................9
附录B(资料性)测试系统连接框图.........................................................................................................12
附录C(资料性)起草单位和主要起草人.................................................................................................13
1
T/CSTM00990—2023
前言
本文件参照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》,GB/T
20001.4—2015《标准编写规则第4部分:试验方法标准》的规定起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由中国材料与试验标准化委员会电子材料标准化领域委员会(CSTM/FC51)提出。
本文件由中国材料与试验标准化委员会电子材料标准化领域委员会(CSTM/FC51)归口。
2
T/CSTM00990—2023
引言
介电常数和介质损耗角正切影响着高速高频电路的关键性能,尤其是在毫米波频段上。因此,非常
有必要建立准确测量毫米波频段介质基板介电常数和介质损耗角正切的标准方法。本文件采用准光腔法
进行测试,规定25GHz~110GHz宽带范围内的介电常数和介质损耗角正切以及介电常数温度系数和损
耗因子温度系数的测试方法。基于GB/T9534-88改进优化的内容:
a)根据发展需求,增加复介电常数的温漂测试(TCDk、TCDf)(-65℃~125℃)规定,补充国家
标准的空白;
b)细化了测试步骤,提高测试的一致性和可重复性;
c)描述了在试验过程中影响试验结果的注意事项。
3
T/CSTM00990—2023
毫米波频段介电常数和介质损耗角正切测试方法准光腔测试法
重要提示:使用本文件的人员应有正规实验室工作的实践经验。本文件并未指出所有可能的安全问
题。使用者有责任采取适当的安全和健康措施,并保证符合国家有关法规规定的条件。
1范围
本文件规定了介质基板毫米波波段的介电常数和介质损耗角正切的准光腔测试方法,包括原理、环
境条件、仪器设备、样品要求、测试步骤、计算公式、系统误差、注意事项和试验报告等内容。
本文件适用于测试片状固体材料在毫米波频段的介电常数和介质损耗角正切。
频率测试范围:𝑓=25GHz~110GHz;
介电常数测试范围:=2.0~20.0;
−4−2
损耗角正切值测试范围:tan𝛿𝜀=1.0×10~1.0×10;
温度测试范围:-65℃~125℃。
2规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文件,仅
该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T2036印制板电路术语
3术语和定义
GB/T2036界定的术语和定义适用于本文件。
3.1
介电常数dielectricconstant
规定形状电极之间填充电介质获得的电容量与相同电极之间为真空时的电容量之比。
[来源:GB/T2036-1994,6.3.6]
3.2
介质损耗角正切dielectricdissipationfactor
对电介质施加正弦波电压时,通过介质的电流相量超前于电压相量间的相角的余角称为损耗角,对该损
耗角取正切函数值,即为介质损耗角正切值,也称为损耗因数。
[来源:GB/T2036-1994,6.3.7,有修改]
4符号和缩略语
:r=⁄0,相对介电常数实部,简称介电常数,同义词:Dk
tan𝛿𝜀:介电损耗角正切,同义词:Df
TCDk:介电常数的温度系数,10-6/℃
4
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