国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
31 电子学
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
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现行
译：T/CSA 047-2019适用范围：范围:本标准规定了一种用于发光二极管（LED）或LED阵列的热特性的电学法热阻测试方法。 本标准适用于直流方式供电的LED，且无自发热的条件下，待测LED的正向电压应与环境温度呈明显线性关系。 本标准适用于实验室环境和小批量的单颗LED和一定结构的LED阵列（包括LED的串联、并联、混联）的稳态和瞬态条件下热阻和结温的测试。 本标准不适用于激光二极管的热阻和结温测试; 主要技术内容:本标准规定了一种用于发光二极管（LED）或LED阵列的热特性的电学法热阻测试方法。本标准适用于直流方式供电的LED，且无自发热的条件下，待测LED的正向电压应与环境温度呈明显线性关系。本标准适用于实验室环境和小批量的单颗LED和一定结构的LED阵列（包括LED的串联、并联、混联）的稳态和瞬态条件下热阻和结温的测试。本标准不适用于激光二极管的热阻和结温测试【国际标准分类号(ICS)】 ：29.140.99有关灯的其他标准 【中国标准分类号(CCS)】 ：L41半导体二极管发布单位或类别：(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间： 2019-12-30 | 实施时间： 2019-12-30收藏 -
被代替
译：GB/T 14863-1993 Standard test method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：L41半导体二极管发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-12-30 | 实施时间： 1994-10-01收藏
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