GB/T 14863-1993 用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法
GB/T 14863-1993 Standard test method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes
基本信息
标准号
GB/T 14863-1993
标准类型
国家标准
标准状态
被代替
发布日期
1993-12-30
实施日期
1994-10-01
发布单位/组织
国家技术监督局
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1993年12月
-
2013年12月
研制信息
- 起草单位：
- 机械电子工业部46所和4所
- 起草人：
- 孙毅之、张若愚、谢重木、韩艳芬
- 出版信息：
- 页数：11页 | 字数：19 千字 | 开本： 大16开
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- DB2306/T 162-2022 围产期奶牛维生素E和硒缺乏的风险预警技术规程 2023-01-31
- DB2306/T 161-2022 板蓝根生产技术规程 2023-01-31
- DB2306/T 160-2022 露地覆膜花椰菜生产技术规程 2023-01-31
- DB2306/T 163-2022 光伏场区草原虫害防治技术规程 2023-01-31
- DB5305/T 105-2023 幼龄芒果园套种蜜本南瓜栽培技术规程 2023-05-20
- DB2306/T 157-2022 工业大麻无菌实生苗繁育技术规程 2023-01-31
- DB2306/T 158-2022 黄芪无公害栽培技术规程 2023-01-31
- DB2306/T 165-2022 玉米低碳绿色栽培技术规程 2023-01-31
- DB2306/T 170-2022 游泳馆服务接待规范 2023-01-31
- DB2306/T 164-2022 光伏场区鹅生态养殖技术规程 2023-01-31