• 标准状态 
  1. 全部
  2. 现行
  3. 即将实施
  4. 被代替
  5. 废止
  6. 废止转行标
• 发布年份 
  1. 全部
  2. 2026
  3. 2025
  4. 2024
  5. 2023
  6. 2022
  7. 2021及以前

• 被代替
  GB/T 1554-1995 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
  译：GB/T 1554-1995 Test method for crystallographic perfection of silicon by preferential etch techniques
  【国际标准分类号(ICS)】 ：01综合、术语学、标准化、文献 【中国标准分类号(CCS)】 ：H26金属无损检验方法
  发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-04-18 | 实施时间： 1995-12-01
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• 被代替
  GB/T 1557-1989 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
  译：GB/T 1557-1989 The method of determining interstitial oxygen content in silicon by infrared absorption
  【国际标准分类号(ICS)】 ：01综合、术语学、标准化、文献 【中国标准分类号(CCS)】 ：H21金属物理性能试验方法
  发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1989-03-31 | 实施时间： 1990-02-01
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