国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
29 电气工程
31 电子学
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
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废止
译：MH/T 5115-2017 MH/T 5115-2017 Technical requirements for fixed laser bird repellants适用范围：本标准适用于固定式激光驱鸟器（以下简称激光器）的设计、制造、检测、安装及管理。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：L51激光器件发布单位或类别：(CN-MH)行业标准-民航 | 发布时间： 2017-06-06 | 实施时间： 2017-09-01收藏 -
现行
译：DL/T 664-2016 The specification for infrared diagnosis application of electric equipment【国际标准分类号(ICS)】 ：29.240.99其他有关输电网和配电网的设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：L52红外器件发布单位或类别：(CN-DL)行业标准-电力 | 发布时间： 2016-12-05 | 实施时间： 2017-05-01收藏
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现行
译：SJ/T 11460.3-2016 SJ/T 11460.3-2016 Backlight assembly for liquid crystal display - Part 3-3: Blank specification for LED backlight assembly for TV receivers【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2016-04-05 | 实施时间： 2016-09-01收藏
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现行
译：SJ/T 11581-2016 LED module accelerated life testing method【国际标准分类号(ICS)】 ：31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2016-01-15 | 实施时间： 2016-06-01收藏
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现行
译：SJ/T 2658.14-2016 SJ/T 2658.14-2016 Semiconductor Infrared Emitting Diode Measurement Methods Part 14: Junction Temperature【国际标准分类号(ICS)】 ：31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2016-01-15 | 实施时间： 2016-06-01收藏
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现行
译：SJ/T 2658.15-2016 Measurements for Semiconductor Infrared Emitting Diodes - Part 15: Thermal Resistance【国际标准分类号(ICS)】 ：31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2016-01-15 | 实施时间： 2016-06-01收藏
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现行
译：SJ/T 2658.16-2016 Semiconductor Infrared Emitting Diode Measurement Methods - Part 16: Photovoltaic Efficiency【国际标准分类号(ICS)】 ：31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2016-01-15 | 实施时间： 2016-06-01收藏
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现行
译：SJ/T 11580-2016 LED module (LED component) interface specification for general lighting purposes【国际标准分类号(ICS)】 ：31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2016-01-15 | 实施时间： 2016-06-01收藏
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现行
译：SJ/T 11579-2016 SJ/T 11579-2016 LED Module Interface Rules【国际标准分类号(ICS)】 ：31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2016-01-15 | 实施时间： 2016-06-01收藏
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现行
译：SJ/T 11577-2016 SJ/T 11577-2016 and SJ/T 11394-2009 "Semiconductor Light-Emitting Diode Test Method" Application Guide【国际标准分类号(ICS)】 ：31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2016-01-15 | 实施时间： 2016-06-01收藏
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现行
译：JB/T 12632-2016 fiber laser。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：L51激光器件发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 2016-01-15 | 实施时间： 2016-06-01收藏
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现行
译：SJ/T 2749-2016 SJ/T 2749-2016 Semiconductor laser diode test method【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2016-01-15 | 实施时间： 2016-06-01收藏
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现行
译：SJ/T 2658.1-2015 Semiconductor Infrared Emitting Diode Measurement Methods - Part 1: General Rules【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01收藏
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现行
译：SJ/T 2658.4-2015 Semiconductor Infrared Emitting Diode Measurement Methods - Part 4: Total Capacitance【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01收藏
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现行
译：SJ/T 2658.10-2015 SJ/T 2658.10-2015 Semiconductor Infrared Emitting Diode Measurement Methods Part 10: Modulation Bandwidth【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01收藏
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现行
译：SJ/T 2658.9-2015 Measurements of Semiconductor Infrared Emitting Diodes - Part 9: Spatial Distribution of Radiation Intensity and Half-Power Beam Angle【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01收藏
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现行
译：SJ/T 2658.6-2015 Semiconductor Infrared Emitter Diode Measurement Methods - Part 6: Radiated Power【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01收藏
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现行
译：SJ/T 2658.5-2015 SJ/T 2658.5-2015 Semiconductor Infrared Emitting Diode Measurement Methods Part 5: Series Resistance【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01收藏
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现行
译：SJ/T 2658.3-2015 SJ/T 2658.3-2015 Semiconductor infrared emitting diode measurement methods Part 3: Reverse voltage and reverse current【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01收藏
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现行
译：SJ/T 2658.12-2015 SJ/T 2658.12-2015 Semiconductor Infrared Emitting Diode Measurement Methods Part 12: Peak Emission Wavelength and Spectral Radiation Bandwidth【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L53半导体发光器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-10-10 | 实施时间： 2016-04-01收藏
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