• 标准状态 
  1. 全部
  2. 现行
  3. 即将实施
  4. 被代替
  5. 废止
  6. 废止转行标
• 发布年份 
  1. 全部
  2. 2026
  3. 2025
  4. 2024
  5. 2023
  6. 2022
  7. 2021及以前

• 现行
  SJ/T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
  译：SJ/T 2214-2015 Testing methods for semiconductor photo-diodes and photo-transistors
  【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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• 现行
  SJ/T 2354-2015 ＰＩＮ、雪崩光电二极管测试方法
  译：SJ/T 2354-2015 Pin and avalanche photodiode testing methods
  【国际标准分类号(ICS)】 ：31.180印制电路和印制电路板 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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• 现行
  SJ/T 2216-2015 硅光电二极管技术规范
  译：SJ/T 2216-2015 Silicon photodiode technology specification
  【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01
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• 现行
  SJ/T 2217-2014 硅光电晶体管技术规范
  译：SJ/T 2217-2014 Silicon phototransistor technology specification
  【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2014-10-14 | 实施时间： 2015-04-01
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• 现行
  JB/T 9478.4-2013 光电池测量方法 第4部分：照度-电流特性
  译：JB/T 9478.4-2013 Light-emitting diode (LED) measurement methods - Part 4: Illuminance-current characteristics
  【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件
  发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 2013-12-31 | 实施时间： 2014-07-01
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• 现行
  JB/T 9478.10-2013 光电池测量方法 第10部分：上升时间、下降时间
  译：JB/T 9478.10-2013 Light-emitting diode (LED) measurement methods - Part 10: Rise time, fall time
  【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件
  发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 2013-12-31 | 实施时间： 2014-07-01
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• 现行
  JB/T 9478.8-2013 光电池测量方法 第8部分：光谱灵敏度
  译：JB/T 9478.8-2013 Photocell measurement method - Part 8: Spectral sensitivity
  【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件
  发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 2013-12-31 | 实施时间： 2014-07-01
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• 现行
  JB/T 9478.5-2013 光电池测量方法 第5部分：积分灵敏度
  译：JB/T 9478.5-2013 Light-emitting diode (LED) measurement methods - Part 5: Integral sensitivity
  【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件
  发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 2013-12-31 | 实施时间： 2014-07-01
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• 现行
  JB/T 9478.3-2013 光电池测量方法 第3部分：光电转换效率
  译：JB/T 9478.3-2013 Light-emitting diode measurement methods - Part 3: Photovoltaic conversion efficiency
  【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件
  发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 2013-12-31 | 实施时间： 2014-07-01
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• 现行
  JB/T 9478.9-2013 光电池测量方法 第9部分：光谱响应特性
  译：JB/T 9478.9-2013 Light-emitting-diode (LED) measurement methods - Part 9: Spectral response characteristics
  【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件
  发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 2013-12-31 | 实施时间： 2014-07-01
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• 现行
  JB/T 9478.2-2013 光电池测量方法 第2部分：伏安特性
  译：JB/T 9478.2-2013 Photocell measurement method Part 2: Voltage-current characteristics
  【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件
  发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 2013-12-31 | 实施时间： 2014-07-01
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• 现行
  JB/T 9478.1-2013 光电池测量方法 第1部分：总则
  译：JB/T 9478.1-2013 Photocell measurement methods - Part 1: General principles
  【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件
  发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 2013-12-31 | 实施时间： 2014-07-01
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• 现行
  JB/T 9478.12-2013 光电池测量方法 第12部分：反向击穿电压
  译：JB/T 9478.12-2013 Light-emitting diode (LED) measurement methods - Part 12: Reverse breakdown voltage
  【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件
  发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 2013-12-31 | 实施时间： 2014-07-01
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• 现行
  JB/T 9478.11-2013 光电池测量方法 第11部分：结电容
  译：JB/T 9478.11-2013 Light-emitting diode (LED) measurement methods - Part 11: Junction capacitance
  【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件
  发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 2013-12-31 | 实施时间： 2014-07-01
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• 现行
  JB/T 9478.6-2013 光电池测量方法 第6部分：暗电流
  译：JB/T 9478.6-2013 Light-emitting diode measurement methods - Part 6: Dark current
  【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件
  发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 2013-12-31 | 实施时间： 2014-07-01
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• 现行
  JB/T 9478.7-2013 光电池测量方法 第7部分：暗电流温度特性
  译：JB/T 9478.7-2013 Photocell measurement methods - Part 7: Dark current temperature characteristics
  【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件
  发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 2013-12-31 | 实施时间： 2014-07-01
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• 现行
  JB/T 9479-2011 光敏电阻器总规范
  译：JB/T 9479-2011 JBT 9479-2011 General specification for light-sensitive resistors
  【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件
  发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 2011-08-15 | 实施时间： 2011-11-01
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• 废止
  SJ/T 9568-1995 可见光光敏器件质量分等标准
  译：SJ/T 9568-1995 Visible light photoelectric device quality classification standard
  【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1995-08-07 | 实施时间： 1996-01-01
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• 废止
  SJ 2215.8-1982 半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法
  译：SJ 2215.8-1982 Method of measurement for output saturation voltage of semiconductor photocouplers (diodes)
  【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1982-11-30 | 实施时间： 1983-07-01
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• 废止
  SJ 2214.8-1982 半导体光敏三极管暗电流的测试方法
  译：SJ 2214.8-1982 Method of measurement for dark current voltage of semiconductor phototransistors
  【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件
  发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1982-11-30 | 实施时间： 1983-07-01
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