国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
29 电气工程
31 电子学
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
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现行
译：SJ/T 2354-2015 Pin and avalanche photodiode testing methods【国际标准分类号(ICS)】 ：31.180印制电路和印制电路板 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01收藏 -
现行
译：SJ/T 2214-2015 Testing methods for semiconductor photo-diodes and photo-transistors【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01收藏
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现行
译：SJ/T 2216-2015 Silicon photodiode technology specification【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01收藏
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现行
译：SJ/T 2217-2014 Silicon phototransistor technology specification【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2014-10-14 | 实施时间： 2015-04-01收藏
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废止
译：SJ/T 9568-1995 Visible light photoelectric device quality classification standard【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1995-08-07 | 实施时间： 1996-01-01收藏
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废止
译：SJ 2215.8-1982 Method of measurement for output saturation voltage of semiconductor photocouplers (diodes)【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1982-11-30 | 实施时间： 1983-07-01收藏
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废止
译：SJ 2214.8-1982 Method of measurement for dark current voltage of semiconductor phototransistors【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1982-11-30 | 实施时间： 1983-07-01收藏
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废止
译：SJ 2215.12-1982 Method of measurement for input-to-output capacitance of semiconductor photocouplers【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1982-11-30 | 实施时间： 1983-07-01收藏
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废止
译：SJ 2214.10-1982 Method of measurement for light current of semiconductor photodiodes and phototransistors【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1982-11-30 | 实施时间： 1983-07-01收藏
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译：SJ 2214.4-1982 Method of measurement for reverse break-down voltage of semiconductor photodiodes【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1982-11-30 | 实施时间： 1983-07-01收藏
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译：SJ 2214.7-1982 Method of measurement for saturation voltage of semiconductor phototransistors【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1982-11-30 | 实施时间： 1983-07-01收藏
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译：SJ 2215.6-1982 Method of measurement for junction capacitance of semiconductor photocouplers (diodes)【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1982-11-30 | 实施时间： 1983-07-01收藏
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译：SJ 2214.9-1982 Method of measurement for pulse rise and fall time of semiconductor photodiodes and phototransistors【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1982-11-30 | 实施时间： 1983-07-01收藏
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译：SJ 2215.14-1982 Method of measurement for input-to-output isolation voltage of semiconductor photocouplers【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1982-11-30 | 实施时间： 1983-07-01收藏
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译：SJ 2215.7-1982 Method of measurement for collector-emitter reverse breakdown voltage of semiconductor photocouplers (diodes)【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1982-11-30 | 实施时间： 1983-07-01收藏
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废止
译：SJ 2215.3-1982 Method of measurement for forward current of semiconductor photocouplers (diodes)【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1982-11-30 | 实施时间： 1983-07-01收藏
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废止
译：SJ 2214.1-1982 General procedures of measurement for semiconductor photodiodes and phototransistors【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1982-11-30 | 实施时间： 1983-07-01收藏
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废止
译：SJ 2215.4-1982 Method of measurement for reverse current of semiconductor photocouplers (diodes)【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1982-11-30 | 实施时间： 1983-07-01收藏
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废止
译：SJ 2214.6-1982 Method of measurement for collector-emitter reverse breakdown voltage of semiconductor phototransistors【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1982-11-30 | 实施时间： 1983-07-01收藏
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废止
译：SJ 2215.5-1982 The testing method for reverse breakdown voltage of a semiconductor optical coupler (diode)【国际标准分类号(ICS)】 ：暂无 【中国标准分类号(CCS)】 ：L54半导体光敏器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1982-11-30 | 实施时间： 1983-07-01收藏
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