SJ 2214.9-1982 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法
SJ 2214.9-1982 Method of measurement for pulse rise and fall time of semiconductor photodiodes and phototransistors
基本信息
标准号
SJ 2214.9-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位:
- -
- 起草人:
- -
- 出版信息:
- 页数:1页 | 字数:- | 开本: -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- DB5106/T 34-2024 丘区三系杂交水稻制种技术规程 2024-07-05
- DB5108/T 53-2024 地理标志产品 利州红栗生产技术规程 2024-06-15
- DB5108/T 52-2024 地理标志产品 利州香菇生产技术规程 2024-06-15
- DB5106/T 35-2024 市场监管领域行政许可工作规范 2024-07-05
- DB5106/T 33-2024 大型铸锻件用钢冶炼过程快速氢、氧、氮工艺定量技术规程 2024-07-05
- DB5110/T 63-2024 稻虾共作模式下水稻高产栽培技术规程 2024-07-15
- DB5110/T 62-2024 威远大头菜种植技术规程 2024-07-15
- DB5110/T 61-2024 火葱栽培技术规程 2024-07-15
- DB5106/T 32-2024 大型构件机械加工工艺路线能效优化规范 2024-07-05
- DB5108/T 48-2024 地理标志产品 剑门关豆腐生产技术规程 2024-06-10