SJ 2214.9-1982 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法
SJ 2214.9-1982 Method of measurement for pulse rise and fall time of semiconductor photodiodes and phototransistors
基本信息
标准号
SJ 2214.9-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位：
- -
- 起草人：
- -
- 出版信息：
- 页数：1页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- HG/T 3822-2006 聚天冬氨酸（盐） 2006-07-26
- JB/T 7601.9-1994 电线电缆专用设备 基本技术要求 第9部分 装配 1995-12-09
- HB 5434.7-2004 航空机轮摩擦材料试验方法 第7部分:摩擦试验方法 2004-09-01
- JB/T 10480-2004 柔性版印刷机 2004-10-20
- HB 5874-1985 飞机插头座插针插孔一般技术要求 1985-03-07
- JB/T 7699-1995 铸造用木制模样和芯盒 技术条件 1995-06-20
- HJ 596.7-2010 水质 词汇 第七部分 2010-11-05
- HB 5642-1987 自锁螺母技术条件 1987-06-27
- JB/T 10231.20-2002 刀具产品检测方法 第20部分：矩形花键拉刀 2002-07-16
- LY 1132-1993 林用架空索道 钢丝绳的选择、检验与报废 1993-07-07