SJ 2214.9-1982 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法
SJ 2214.9-1982 Method of measurement for pulse rise and fall time of semiconductor photodiodes and phototransistors
基本信息
标准号
SJ 2214.9-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位:
- -
- 起草人:
- -
- 出版信息:
- 页数:1页 | 字数:- | 开本: -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/CEC 245-2019 变电站继电保护接地技术规范 2019-11-21
- T/SMA 0017-2021 电力杆塔用拉线电磁超声导波检测技术导则 2021-04-29
- T/ZALI 0009-2020 智能道路照明终端控制器技术规范 2020-08-10
- T/CEEIA 504-2021 六相脉冲同步发电机试验导则 2021-06-07
- T/QGCML 1765-2023 锂离子电池负极材料用沥青 2023-10-19
- T/CEC 360-2020 变电站监控系统试验用标准功率源装置技术规范 2020-06-30
- T/CSTE 0125-2021 “领跑者”标准评价要求 海底电缆 2021-12-16
- T/CEEIA 506-2021 锂离子电池正极材料绿色工厂评价要求 2021-06-07
- T/CMES 07008-2024 永磁同步电动机通用技术条件 2024-04-03
- T/GIES 009-2022 质量分级及“领跑者”评价要求 普通照明用 LED模块 2022-12-05