SJ 2214.9-1982 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法
SJ 2214.9-1982 Method of measurement for pulse rise and fall time of semiconductor photodiodes and phototransistors
基本信息
标准号
SJ 2214.9-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位：
- -
- 起草人：
- -
- 出版信息：
- 页数：1页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- DB11/T 1322.78-2018 安全生产等级评定技术规范 第78部分：野生动物养殖场所 2018-09-29
- DB11/T 1302-2018 芒属和荻属植物栽培技术规程 2018-09-29
- DB11/T 1322.76-2018 安全生产等级评定技术规范 第76部分：园林绿化施工单位 2018-09-29
- DB11/T 1460.4-2018 实验动物 寄生虫检测与评价 第4部分:实验用狨猴 2018-09-28
- DB11/T 1459.5-2018 实验动物 微生物检测与评价 第5部分：实验用长爪沙鼠 2018-09-28
- DB11/T 1460.5-2018 实验动物 寄生虫检测与评价 第5部分:实验用长爪沙鼠 2018-09-28
- DB11/T 1322.45-2018 安全生产等级评定技术规范 第45部分：城市照明设施施工维护单位 2018-09-29
- DB11/T 1459.4-2018 实验动物 微生物检测与评价 第4部分：实验用狨猴 2018-09-28
- DB11/T 1322.77-2018 安全生产等级评定技术规范 第77部分：公园风景名胜区 2018-09-29
- DB11/T 1322.56-2018 安全生产等级评定技术规范 第56部分：医疗卫生机构 2018-09-29