SJ 2214.9-1982 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法
SJ 2214.9-1982 Method of measurement for pulse rise and fall time of semiconductor photodiodes and phototransistors
基本信息
标准号
SJ 2214.9-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位:
- -
- 起草人:
- -
- 出版信息:
- 页数:1页 | 字数:- | 开本: -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/CADERM 5006-2019 狭小空间下搜救医协同技术规范 2019-04-29
- T/TPPA 0002-2022 RBL-2H3肥大细胞RTCA法评价中药注射剂类过敏反应操作规程 2022-12-22
- T/ZZB 2806-2022 聚氯乙烯/聚偏二氯乙烯固体药用复合硬片 2022-12-08
- T/CSBME 036-2021 医用电气设备环境剖面参数指南 2021-01-16
- T/CACM 1378.3-2022 临床急危重症常用中成药调剂技术规范第3部分∶外用膏剂 2022-01-11
- T/CAMDI 047-2020 输液、输血器具用硬质聚氯乙烯(PVC)专用料 2020-12-31
- T/QGCML 2282-2023 动态空气消毒机 2023-11-21
- T/HENANPA 006-2022 中药饮片验收规范 2022-08-05
- T/GXAS 426-2022 动物尿液分析系统 2022-12-28
- T/SDAS 412-2022 中药南、北柴胡源性成分鉴定 实时荧光PCR法 2022-06-23