1. 当前位置：
  2. 首页 >
  3. 行业标准 >
  4. SJ 2214.7-1982

SJ 2214.7-1982 半导体光敏三极管饱和压降的测试方法

SJ 2214.7-1982 Method of measurement for saturation voltage of semiconductor phototransistors

行业标准-电子 中文(简体) 废止 已被新标准代替，建议下载标准 SJ/T 2214-2015 | 页数：1页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
SJ 2214.7-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
中国标准分类号（CCS）
L54 半导体光敏器件
国际标准分类号（ICS）
-
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-

发布历史

文前页预览

当前资源暂不支持预览

研制信息

起草单位：
-
起草人：
-
出版信息：
页数：1页 | 字数：- | 开本： -

内容描述

暂无内容

定制服务

    推荐标准

    关联标准

    同系列标准
    SJ 2214 第1部分
    SJ 2214.1-1982 半导体光敏管测试方法总则
    第1部分 废止
    SJ 2214 第2部分
    SJ 2214.2-1982 半导体光敏二极管正向压降的测试方法
    第2部分 废止
    SJ 2214 第3部分
    SJ 2214.3-1982 半导体光敏二极管暗电流的测试方法
    第3部分 废止
    SJ 2214 第4部分
    SJ 2214.4-1982 半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法
    第4部分 废止
    SJ 2214 第5部分
    SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法
    第5部分 废止
    SJ 2214 第6部分
    SJ 2214.6-1982 半导体光敏三极管集电极－发射极反向击穿电压的测试方法
    第6部分 废止
    SJ 2214 第8部分
    SJ 2214.8-1982 半导体光敏三极管暗电流的测试方法
    第8部分 废止
    SJ 2214 第9部分
    SJ 2214.9-1982 半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法
    第9部分 废止
    SJ 2214 第10部分
    SJ 2214.10-1982 半导体光敏二、三极管光电流的测试方法
    第10部分 废止
    被以下标准替代
    SJ/T 2214-2015
    SJ/T 2214-2015 半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
    现行

    相似标准推荐

    更多>