SJ 2214.7-1982 半导体光敏三极管饱和压降的测试方法
SJ 2214.7-1982 Method of measurement for saturation voltage of semiconductor phototransistors
基本信息
标准号
SJ 2214.7-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位：
- -
- 起草人：
- -
- 出版信息：
- 页数：1页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- GB/T 12519-1990 分析仪器通用技术条件 1990-11-06
- GB/T 12518-1990 膨润土矿地质勘探规范 1990-11-02
- GB/T 4798.3-1990 电工电子产品应用环境条件 有气候防护场所固定使用 1990-11-04
- MT 220-1990 煤矿用防爆柴油机械排气中一氧化碳、氮氧化物检验规范 1990-10-26
- YC 003-1990 YJ 14-YJ 23型 卷接机组 1990-11-03
- GB 12514-1990 消防接口性能要求和试验方法 1990-11-06
- GB/T 12501-1990 电工电子设备防触电保护分类 1990-11-06
- MT 225-1990 单向压缩条件下煤和岩石蠕变性测定方法 1990-10-30
- GB 12515-1990 手提贮压式干粉灭火器 1990-11-06
- GB/T 4798.4-1990 电工电子产品应用环境条件 无气候防护场所固定使用 1990-11-04