SJ 2214.7-1982 半导体光敏三极管饱和压降的测试方法
SJ 2214.7-1982 Method of measurement for saturation voltage of semiconductor phototransistors
基本信息
标准号
SJ 2214.7-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位:
- -
- 起草人:
- -
- 出版信息:
- 页数:1页 | 字数:- | 开本: -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- YB/T 6532-2026 菱镁石 镁、钙、硅、铁、铝、锰含量测定 波长色散X射线荧光光谱分析法(玻璃熔片法) 2026-07-15
- YB/T 6523-2026 合金工具钢盘条 2026-07-15
- YB/T 6530-2026 焦炭吸附性测定方法 2026-07-15
- YB/T 6504-2026 焦化油类产品 全硫含量的测定 2026-07-15
- YB/T 6529-2026 钢铁行业数字化车间通用技术要求 2026-07-15
- YB/T 6527-2026 钢铁行业冷轧生产智能管控系统技术要求 2026-07-15
- YB/T 6526-2026 钢铁行业堆取料机无人作业技术要求 2026-07-15
- YB/T 6509-2026 石墨烯薄膜覆盖度测定 扫描电子显微镜法 2026-07-15
- YB/T 6524-2026 耐候冷镦钢盘条 2026-07-15
- YB/T 6531-2026 硬炭材料 电化学性能测试方法 2026-07-15