SJ 2214.4-1982 半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法
SJ 2214.4-1982 Method of measurement for reverse break-down voltage of semiconductor photodiodes
基本信息
标准号
SJ 2214.4-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位：
- -
- 起草人：
- -
- 出版信息：
- 页数：1页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- SJ 20663-1998 装甲车载侦察雷达通用规范 1998-03-11
- SJ 20417-1994 地面炮瞄雷达通用规范 1994-09-30
- EJ/T 339-1988 压水堆核电厂安全阀和卸压阀管设计准则 1988-06-05
- NB/T 20082-2012 核电厂安全级柴油发电机鉴定规程 2012-01-06
- SJ/T 10761-1996 电容器用陶瓷介质材料的分类及名称和牌号的命名方法 1996-11-20
- HB 3155-1978 方垫圈 1980-01-07
- YD/T 1091-2000 56kbit/s调制解调器接口及传输性能技术要求和测试方法 2000-11-28
- HB 7273-1996 攻角、侧滑角传感器通用规范 1996-09-13
- HB 3154-1978 平板 1980-01-07
- JT 618-2004 汽车运输、装卸危险货物作业规程 2004-12-30