SJ 2214.4-1982 半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法
SJ 2214.4-1982 Method of measurement for reverse break-down voltage of semiconductor photodiodes
基本信息
标准号
SJ 2214.4-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位：
- -
- 起草人：
- -
- 出版信息：
- 页数：1页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/CRHA 102-2024 生物安全 传染性临床样本资源库应急管理通用要求 2024-12-05
- T/SDAHA 006-2024 兽用中药材 香菇 2024-08-19
- T/CRHA 046-2024 标准手术体位安置技术规范 2024-04-20
- T/CASME 1442-2024 介入式左心室辅助系统 2024-04-20
- T/CVMA 177-2024 猫疱疹病毒感染诊断技术规范 2024-09-09
- T/ZCHSP 008-2024 抗肿瘤药物拓展性临床使用人工智能辅助循证系统技术规范 2024-09-02
- T/BPM 001-2024 围手术期质量管理 第3部分：手术中管理 2024-05-09
- T/GXAS 660-2023 艾滋病常见病症中医外治规范 2023-12-27
- T/CRHA 101-2024 经股动脉介入治疗穿刺部位护理规范 2024-12-05
- T/FSS 95-2024 钛及钛合金牙种植体 2024-08-28