SJ 2214.1-1982 半导体光敏管测试方法总则
SJ 2214.1-1982 General procedures of measurement for semiconductor photodiodes and phototransistors
基本信息
标准号
SJ 2214.1-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位：
- -
- 起草人：
- -
- 出版信息：
- 页数：1页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- GB/T 30759-2014 高铬砖 2014-06-09
- GB/T 30766-2014 茶叶分类 2014-06-09
- GB/T 3286.5-2014 石灰石及白云石化学分析方法 第5部分：氧化锰含量的测定 高碘酸盐氧化分光光度法 2014-06-09
- GB/T 30764-2014 雄蜂蛹 2014-06-09
- GB/T 30761-2014 扁桃仁 2014-06-09
- GB/T 30763-2014 农产品质量分级导则 2014-06-09
- GB/T 30765-2014 粮油名词术语 原粮油料形态学和结构学 2014-06-09
- GB/T 30758-2014 耐火材料 动态杨氏模量试验方法(脉冲激振法) 2014-06-09
- GB/T 30762-2014 主要竹笋质量分级 2014-06-09
- GB/T 30757-2014 残碳量7％～50%的碱性致密定形耐火制品分类 2014-06-09