SJ 2214.2-1982 半导体光敏二极管正向压降的测试方法
SJ 2214.2-1982 Method of measurement for forward voltage of semiconductor photodiodes
基本信息
标准号
SJ 2214.2-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位：
- -
- 起草人：
- -
- 出版信息：
- 页数：1页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- DB61/T 1603-2022 地理标志产品 略阳黄精 2022-10-12
- DB61/T 1601-2022 陕北白绒山羊营养需要量 2022-10-12
- DB61/T 1599-2022 马铃薯脱毒原种繁育技术规程 2022-10-12
- DB61/T 1600-2022 陕北白绒山羊两年三胎繁殖技术规程 2022-10-12
- DB61/T 1595-2022 拱棚甜瓜早春茬栽培技术规范 2022-10-12
- DB61/T 1594.5-2022 石榴生产技术规程 第5部分：病虫害绿色防控 2022-10-12
- DB61/T 1598-2022 马铃薯膜下滴灌栽培技术规程 2022-10-12
- DB61/T 1596-2022 胡萝卜机械化栽培技术规范 2022-10-12
- DB61/T 1594.6-2022 石榴生产技术规程 第6部分：鲜果冷藏管理 2022-10-12
- DB61/T 1602-2022 地理标志产品 商洛丹参 2022-10-12