SJ 2214.2-1982 半导体光敏二极管正向压降的测试方法
SJ 2214.2-1982 Method of measurement for forward voltage of semiconductor photodiodes
基本信息
标准号
SJ 2214.2-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位:
- -
- 起草人:
- -
- 出版信息:
- 页数:1页 | 字数:- | 开本: -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- DB3209/T 1288-2024 响水鲜食西兰花 2024-12-27
- DB3209/T 1292-2024 园林绿化种植土质量要求 2024-12-27
- DB3203/T 1074-2024 智慧社区治理与服务规范 2024-12-25
- DB3209/T 1291-2024 公路工程工业废渣及海泥复合再生材料稳定碎石施工技术规范 2024-12-27
- DB3203/T 1075-2024 社会组织孵化基地运营管理规范 2024-12-25
- DB3209/T 1285-2024 油菜机械化生产技术规程 2024-12-27
- DB3209/T 1290-2024 公路工程工业废渣及海泥复合再生材料稳定土施工技术规范 2024-12-27
- DB3209/T 1286-2024 水稻机械化收获作业减损技术规程 2024-12-27
- DB3209/T 1289-2024 洋马菊花生产技术规程 2024-12-27
- DB3209/T 1284-2024 胡萝卜机械化生产技术规程 2024-12-27