SJ 2214.2-1982 半导体光敏二极管正向压降的测试方法
SJ 2214.2-1982 Method of measurement for forward voltage of semiconductor photodiodes
基本信息
标准号
SJ 2214.2-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位:
- -
- 起草人:
- -
- 出版信息:
- 页数:1页 | 字数:- | 开本: -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/GZF 4-2022 电动型功能沙发 2022-11-18
- T/DGJMJS 008-2020 低碳饮食减脂管理人员职业能力要求 2020-12-10
- T/CASEI 71002-2019 非公路用旅游观光车辆 定期检验规范 2019-05-31
- T/SZBX 078-2023 儿童学习桌椅 2023-11-08
- T/CAS 360-2019 带增压预热功能家用燃气快速热水器 2019-07-06
- T/HTSJ 012-2023 半预制合成材料面层运动场地 2023-04-17
- T/SDCA 047-2023 泰山品质 双扉洗脱烘一体机 2023-10-17
- T/XXCCSS 004-2022 不锈钢复合钢锅 2022-06-15
- T/HMJF 003-2017 高端家纺类产品 枕、垫类产品 2017-08-20
- T/CAQI 99-2020 家用和类似用途水槽洗碗机 2020-01-02