SJ 2214.2-1982 半导体光敏二极管正向压降的测试方法
SJ 2214.2-1982 Method of measurement for forward voltage of semiconductor photodiodes
基本信息
标准号
SJ 2214.2-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位：
- -
- 起草人：
- -
- 出版信息：
- 页数：1页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/FIAC 0001-2019 低碳锰硅合金 2019-04-24
- T/CISA 025-2020 非晶合金用高硅纯铁 2020-01-13
- T/ZZB 3077-2023 汽车装饰条用不锈钢钢板及钢带 2023-06-30
- T/CSTM 00046.18-2018 低合金结构钢腐蚀试验 第18部分：腐蚀产物清除方法 2018-10-16
- T/CNS 51.3-2021 核电厂用合金钢构筑成形工艺技术要求 第3部分：锻造加热 2021-07-26
- T/CACE 0107-2023 钢铁冶金渣基无机胶凝材料 2023-10-31
- T/CNS 21-2020 核电厂金属材料高温高压水中微动疲劳试验方法 2020-04-28
- T/SSEA 0223-2024 氢气输送管线用热轧宽钢带 2024-02-05
- T/ZZB 1164-2019 泵用不锈钢焊接钢管 2019-08-29
- T/CNHA 1004-2017 消防及燃气用螺纹式球墨铸铁管件 2018-07-12