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SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法

SJ 2214.5-1982 Method of measurement for junction capacitance of semiconductor photodiodes

行业标准-电子 中文(简体) 废止 已被新标准代替，建议下载标准 SJ/T 2214-2015 | 页数：1页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
SJ 2214.5-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
中国标准分类号（CCS）
L54 半导体光敏器件
国际标准分类号（ICS）
-
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-

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