SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法
SJ 2214.5-1982 Method of measurement for junction capacitance of semiconductor photodiodes
基本信息
标准号
SJ 2214.5-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
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研制信息
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- 出版信息：
- 页数：1页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
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