SJ 2214.5-1982 半导体光敏二极管结电容的测试方法
SJ 2214.5-1982 Method of measurement for junction capacitance of semiconductor photodiodes
基本信息
标准号
SJ 2214.5-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位：
- -
- 起草人：
- -
- 出版信息：
- 页数：1页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- GB/T 14729-2000 轮椅车 术语 2000-04-05
- GB/T 13173.2-2000 洗涤剂中总活性物含量的测定 2000-04-05
- GB/T 18044-2000 地毯静电性能评定 模拟人体步行试验方法 2000-04-05
- GB/T 11887-2000 首饰 贵金属纯度的规定及命名方法 2000-04-05
- GB/T 18043-2000 贵金属首饰含量的无损检测方法 X射线荧光光谱法 2000-04-05
- GB/T 18027-2000 电动上肢假肢通用件 2000-04-05
- GB/T 18041-2000 民用航空货物运输术语 2000-04-05
- GB/T 18029-2000 轮椅车 座(靠)垫阻燃性的要求和测试方法 2000-04-05
- GB/T 18028-2000 中国盲文数学、物理、化学符号 2000-04-05
- GB/T 8967-2000 谷氨酸钠(99%味精) 2000-04-05