SJ 2214.6-1982 半导体光敏三极管集电极－发射极反向击穿电压的测试方法
SJ 2214.6-1982 Method of measurement for collector-emitter reverse breakdown voltage of semiconductor phototransistors
基本信息
标准号
SJ 2214.6-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位：
- -
- 起草人：
- -
- 出版信息：
- 页数：1页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- DB6101/T 3130-2022 市场监督管理行政处罚 文书规范 2022-10-14
- DB6101/T 3136-2022 城市园林绿化 乔木栽植技术规程 2022-10-14
- DB6101/T 3129-2022 市场监督管理行政处罚 程序规范 2022-10-14
- DB6101/T 3133-2022 社区（村）应急避难场所设置规范 2022-10-14
- DB33/T 1296-2023 共享法庭建设与运行规范 2023-05-29
- DB6101/T 3134-2022 综合减灾示范社区创建规范 2022-10-14
- DB33/T 1295-2023 公益性岗位管理服务规范 2023-05-29
- DB6101/T 3131-2022 市场监督管理行政处罚 人员规范 2022-10-14
- DB6101/T 3135-2022 商用厨房灭火系统建设管理规范 2022-10-14
- DB6101/T 3132-2022 企业安全风险分级管控和隐患排查治理工作规范 2022-10-14