SJ 2214.6-1982 半导体光敏三极管集电极-发射极反向击穿电压的测试方法
SJ 2214.6-1982 Method of measurement for collector-emitter reverse breakdown voltage of semiconductor phototransistors
基本信息
标准号
SJ 2214.6-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位:
- -
- 起草人:
- -
- 出版信息:
- 页数:1页 | 字数:- | 开本: -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/CACM 1268-2019 中医妇科临床诊疗指南 卵巢早衰 2019-01-30
- T/CACM 1288-2019 中医妇科临床诊疗指南 带下病 2019-01-30
- T/ZSM 0039-2024 口腔种植医疗服务和管理规范 2024-02-29
- T/GDMDMA 0024-2023 个性化基台 1970-01-01
- T/CCCMHPIE 1.74-2021 植物提取物 甘草提取物 2021-11-09
- T/CAPEB 00001.1-2022 制药装备 容器和管道 第1部分:通用要求 2022-11-08
- T/CGSS 012-2020 老年人骨质疏松标志物应用指南 2020-05-22
- T/CVMA 81-2021 犬猫角膜清创技术规范 2021-12-23
- T/CSBM 0006-2021 可降解医用镁合金毛细管材 2021-04-26
- T/CACM 1180-2019 中医内科临床诊疗指南 抑郁症 2019-01-30