SJ 2214.3-1982 半导体光敏二极管暗电流的测试方法
SJ 2214.3-1982 Method of measurement for dark current of semiconductor photodiodes
基本信息
标准号
SJ 2214.3-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位:
- -
- 起草人:
- -
- 出版信息:
- 页数:1页 | 字数:- | 开本: -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/ZZB 1673-2020 多轴向玻璃纤维缝编织物 2020-08-26
- T/CNLIC 0084-2023 绿色设计产品评价技术规范 汽车用聚氨酯人造革合成革 2023-05-15
- T/BYXT 005.5-2023 稀土抗抑菌应用材料 第5部分:布料 2023-01-10
- T/CFDIA 003-2019 胶水羽绒评估方法 2019-04-19
- T/ZZB 2522-2021 赛络紧密纺精梳纯棉色纺纱 2021-09-09
- T/ZZB 0135-2016 膜结构用聚氯乙烯刀刮涂层织物 2016-10-31
- T/CTES 1011-2018 纺织品防电磁波辐射性能测试方法 仿真法 2018-05-08
- T/CNITA 09109-2023 高保湿纤维面膜基布 2023-11-15
- T/CQBSXY 1023-2022 注塑鞋 2022-12-01
- T/YNIA 015-2023 婴幼儿卫生用非织造材料 2023-02-28