SJ 2214.3-1982 半导体光敏二极管暗电流的测试方法
SJ 2214.3-1982 Method of measurement for dark current of semiconductor photodiodes
基本信息
标准号
SJ 2214.3-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位:
- -
- 起草人:
- -
- 出版信息:
- 页数:1页 | 字数:- | 开本: -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- YB/T 4557-2016 冶金电气调速设备交接试验规程 2016-10-22
- DL/T 1230-2016 电力系统图形描述规范 2016-12-05
- SJ/Z 9153.4-1987 压电滤波器 第三部分:标准外形 1988-01-06
- JGJ 113-2009 建筑玻璃应用技术规程 2009-07-09
- HB 6505-1991 飞机供电系统设计通用要求 1991-08-03
- HG 20236-1993 化工设备安装工程质量检验 评定标准(附条文说明) 1993-07-06
- SJ 20114-1992 敌我识别机载询问机通用规范 1992-11-19
- YD/T 2311-2011 移动通信手持机节能参数和测试方法 2011-05-18
- HG 20640-1997 塑料设备 1998-01-12
- SJ/Z 9139-1987 音响信号装置 1988-01-05