SJ 2215.6-1982 半导体光耦合器（二极管）结电容的测试方法
SJ 2215.6-1982 Method of measurement for junction capacitance of semiconductor photocouplers (diodes)
基本信息
标准号
SJ 2215.6-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位：
- -
- 起草人：
- -
- 出版信息：
- 页数：1页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- DB5101/T 25-2018 商务写字楼等级划分 2018-12-25
- DB5101/T 32-2018 农业物联网平台建设要求 2018-12-25
- DB5101/T 27-2018 商务写字楼绿色运营管理规范 2018-12-25
- DB5101/T 29-2018 成都市智慧园区建设与管理通用规范 2018-12-25
- DB5101/T 38-2018 成都市国土绿化信息资源数据规范 2018-12-25
- DB2101/T 0014-2020 重大传染病流行期间养老服务机构疫情防控消毒技术指南 2020-03-27
- DB32/ 3728-2020 工业炉窑大气污染物排放标准 2020-01-06
- DB5101/T 26-2018 商务写字楼公共服务规范 2018-12-25
- DB5101/T 28-2018 网络预约移动通讯终端维修服务规范 2018-12-25
- DB5101/T 33-2018 农业物联网平台基础信息采集要求 2018-12-25