SJ 2215.6-1982 半导体光耦合器（二极管）结电容的测试方法
SJ 2215.6-1982 Method of measurement for junction capacitance of semiconductor photocouplers (diodes)
基本信息
标准号
SJ 2215.6-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位：
- -
- 起草人：
- -
- 出版信息：
- 页数：1页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- DB44/T 1493.1-2014 LED道路照明远程管理技术规范 第1部分：系统架构 2014-12-02
- DB44/T 1479-2014 电动汽车动力电池振动试验 2014-12-02
- DB44/T 1487-2014 电动乘用车混合动力系统性能台架试验方法 2014-12-02
- DB44/T 1491-2014 道路照明用分立式（DOB）LED模块 性能要求 2014-12-02
- DB44/T 1505-2014 建筑五金 平开玻璃门门夹 2014-12-09
- DB44/T 1485-2014 燃料电池电动汽车能量消耗量试验方法 2014-12-02
- DB44/T 1492-2014 管型LED灯外置控制装置一般技术要求 2014-12-02
- DB44/T 1510-2014 生物质成型燃料工业锅炉技术条件 2014-12-09
- DB44/T 1509-2014 多能源互补微电网通用技术要求 2014-12-09
- DB44/T 1497-2014 隧道场所用LED照明产品技术规范 2014-12-02