SJ 2215.13-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法
SJ 2215.13-1982 Method of measurement for input-to-output isolation resistance of semiconductor photocouplers
基本信息
标准号
SJ 2215.13-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位：
- -
- 起草人：
- -
- 出版信息：
- 页数：1页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/GHDQ 101-2022 车辆生产运营阶段信息安全技术要求 2022-11-02
- T/ZZB 0390-2018 经济型轿车 2018-07-20
- T/GHDQ 35-2019 高寒地区燃料电池电动乘用车技术条件 2019-10-24
- T/GHDQ 79-2021 智能网联汽车密码模块安全技术要求 2021-12-24
- T/JSQX 0011-2022 江苏省纯电动重型卡车换电电池包系统技术规范 2022-08-22
- T/JSAS 013-2021 电动车钢轮 2021-08-22
- T/WHAS 0002-2020 机动车用电喇叭 2020-09-20
- T/CASME 341-2023 高可靠性自动防眩目内后视镜 2023-03-27
- T/CAS 659-2022 车载挂片道路腐蚀试验技术规范 2022-11-03
- T/GDCKCJH 020-2020 电动汽车用动力电池复合动态工况下能效及电量估算测试方法 2020-08-14