SJ 2215.13-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法
SJ 2215.13-1982 Method of measurement for input-to-output isolation resistance of semiconductor photocouplers
基本信息
标准号
SJ 2215.13-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位：
- -
- 起草人：
- -
- 出版信息：
- 页数：1页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/CMWHLZ 003-2024 澄迈无核荔枝 生产技术规程 2024-12-01
- T/GDSMM 0068-2024 甘薯脱毒种苗网棚立体繁育技术规程 2024-12-16
- T/CALAS 11-2017 实验动物 树鼩遗传质量控制 2017-05-18
- T/GXAS 026-2019 地理标志农产品浦北黄皮育苗技术规程 2019-12-16
- T/DFZJ 001-2020 大方皱椒产地环境条件 2020-06-30
- T/QGCML 4437-2024 旱地白浆土心土用培肥机作业质量技术要求 2024-07-16
- T/CASME 894-2023 茶小绿叶蝉声光防控技术规程 2023-11-17
- T/GDCXH 0003-2024 热带亚热带桑蚕原种繁育技术规程 2024-12-16
- T/BJZMXH 509-2024 木本鲜切花材料采收、加工及贮运技术规范 2024-12-01
- T/GXAS 882-2024 马尾松组培苗质量分级 2024-12-03