SJ 2215.13-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电阻的测试方法
SJ 2215.13-1982 Method of measurement for input-to-output isolation resistance of semiconductor photocouplers
基本信息
标准号
SJ 2215.13-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位:
- -
- 起草人:
- -
- 出版信息:
- 页数:1页 | 字数:- | 开本: -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/CCSA 383.5-2023 开源软件治理能力评价方法 第5部分:治理工具和平台 2023-10-26
- T/QGCML 2524-2023 高校创新创业实践数据平台通用设计要求 2023-12-07
- T/SDDITAI 9203-2023 数据要素化人才备案推荐评估规范 2023-09-15
- T/QGCML 3970-2024 半导体车间金属粉尘智能检测分析系统 2024-03-28
- T/WAA 004-2023 园区办公用无线局域网性能测试方法 2023-11-30
- T/ZXCH 0031-2024 国土空间用途管制数据规范 2024-04-28
- T/CIE 186-2023 业务研发安全运营一体化能力成熟度模型 2023-08-03
- T/BIAIM 0019-2024 分布式工厂供应链库存管理要求 2024-10-11
- T/CIET 643-2024 数据资产 术语和定义 2024-09-04
- T/QGCML 2393-2023 飞行汽车地空智能导航及自动驾驶控制程序系统 2023-11-29