SJ 2215.12-1982 半导体光耦合器入出间隔离电容的测试方法
SJ 2215.12-1982 Method of measurement for input-to-output capacitance of semiconductor photocouplers
基本信息
标准号
SJ 2215.12-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位：
- -
- 起草人：
- -
- 出版信息：
- 页数：1页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/SVWA 003-2023 惠州冬种马铃薯 2023-12-29
- T/CI 205-2023 硒米香优质功能稻米标准 2023-11-30
- T/SAAE 003-2023 农业科技成果应用价值评价 养殖类评价指标体系 2023-12-20
- T/SGIPA 017-2024 深圳特色海葡萄海上吊养技术规范 2024-04-29
- T/SXMYT 07-2023 “有机旱作·晋品”绿豆 2023-12-29
- T/SXMYT 14-2023 “有机旱作·晋品”沙棘汁 2023-12-29
- T/XJY 0059-2023 主要蔬菜产品田间采样技术规程 2023-12-01
- T/ZNZ 256.1-2024 绿色食品陶箩米标准综合体 第 1 部分：总则 2024-04-01
- T/YNZYC 0089-2023 绿色药材 红大戟栽培技术规程 2023-02-03
- T/SDYY 105-2024 ‘鲁丽’苹果栽培管理数字化 技术规程 2024-04-30