SJ 2215.5-1982 半导体光耦合器(二极管)反向击穿电压的测试方法
SJ 2215.5-1982 The testing method for reverse breakdown voltage of a semiconductor optical coupler (diode)
基本信息
标准号
SJ 2215.5-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位：
- -
- 起草人：
- -
- 出版信息：
- 页数：1页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- YD/T 1915-2009 IPv6技术要求——移动IPv6快速切换 2009-06-15
- HB 6637.2-1992 航空电气图编制方法 机载设备 1993-02-22
- DL/T 5289-2013 1000kV架空输电线路铁塔组立施工工艺导则 2013-03-07
- FZ/T 91001.2-1993 纺织机械制造工艺文件 工艺规程格式 1993-07-17
- GB 36900.2-2018 低、中水平放射性废物高完整性容器-混凝土容器 2018-11-19
- DL/T 5235-2010 ±800kV及以下直流架空输电线路工程施工及验收规程(附条文说明) 2010-05-24
- DL/T 5099-1999 水工建筑物地下开挖工程施工技术规范 1999-08-02
- SJ 2028-1982 直热式正温度系数热敏电阻器总技术条件 1982-01-30
- JT 700-2007 固体散装危险货物海运安全技术要求 2007-12-29
- SJ 20115.5-1992 机载雷达环境条件及试验方法 振动试验 1992-11-19