SJ 2215.5-1982 半导体光耦合器(二极管)反向击穿电压的测试方法
SJ 2215.5-1982 The testing method for reverse breakdown voltage of a semiconductor optical coupler (diode)
基本信息
标准号
SJ 2215.5-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位：
- -
- 起草人：
- -
- 出版信息：
- 页数：1页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/ZZB 3071-2023 微波炉用高压电容器 2023-06-30
- T/CSTM 00991-2023 高速印制板用涂/镀层测试方法 2023-04-07
- T/ZZB 2666-2022 射频识别应答器天线 2022-03-28
- T/QGCML 609-2023 新型APT氯离子自动电位滴定仪 2023-01-11
- T/CASAS 003-2018 p沟道IGBT器件用4H碳化硅外延晶片 2018-11-20
- T/CIECCPA 004-2019 绿色原材料采购规范 发光二极管 2019-12-31
- T/FZWLW 8-2020 可视化电子标签 2020-03-27
- T/CEEIA 307-2018 小型断路器自动化生产线通用技术条件 2018-08-09
- T/ZSA 82-2021 光催化用 UVA LED 模块技术规范 2021-10-14
- T/ZZB 1907-2020 室内全彩LED透明显示屏 2020-11-20