SJ 2215.5-1982 半导体光耦合器(二极管)反向击穿电压的测试方法
SJ 2215.5-1982 The testing method for reverse breakdown voltage of a semiconductor optical coupler (diode)
基本信息
标准号
SJ 2215.5-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位:
- -
- 起草人:
- -
- 出版信息:
- 页数:1页 | 字数:- | 开本: -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- GB 3836.16-2024 爆炸性环境 第16部分:电气装置检查与维护规范 2024-07-24
- GA/T 2141-2024 法庭科学 涉火案件电气物证提取技术规范 2024-04-29
- GA 2139-2024 警用防暴臂盾 2024-04-28
- GB 30000.1-2024 化学品分类和标签规范 第1部分:通则 2024-07-24
- GB/T 24578-2024 半导体晶片表面金属沾污的测定 全反射X射线荧光光谱法 2024-07-24
- GA/T 2131-2024 移民管理领域标准体系表 2024-03-27
- GB 3836.15-2024 爆炸性环境 第15部分:电气装置设计、选型、安装规范 2024-07-24
- GA/T 1065-2024 微剂量X射线安全检查设备测试体校准规范 2024-04-30
- GA/T 2134-2024 法庭科学 有损FLASH存储设备数据恢复取证检验方法 2024-04-16
- GA/T 2142-2024 法庭科学 涉火案件现场勘查个人防护要求 2024-04-29