SJ 2215.14-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电压的测试方法
SJ 2215.14-1982 Method of measurement for input-to-output isolation voltage of semiconductor photocouplers
基本信息
标准号
SJ 2215.14-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位:
- -
- 起草人:
- -
- 出版信息:
- 页数:1页 | 字数:- | 开本: -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/CIET 1716-2025 非开挖紫外光固化内衬管用玻璃纤维增强树脂技术要求 2025-08-25
- T/JCJJ 108-2025 金属硬性电气导管通用技术要求 2025-09-08
- T/CDAS 037-2025 无障碍咖啡空间运营管理规范 2025-09-04
- T/JCJJ 118-2025 房间空气调节器自动清洁过滤网质量等级评价 1970-01-01
- T/JCJJ 120-2025 柔性直流输电电缆 1970-01-01
- T/JSJJ 011-2025 温室气体 产品碳足迹量化方法与要求 金属家具 2025-09-08
- T/CIET 1708-2025 全固废低碳胶凝材料力学性能测试方法 2025-08-25
- T/CIET 1720-2025 植物源性细胞外囊泡药物递送纳米载体技术规范 2025-08-25
- T/CTA 014-2025 进出境卷钢智能理货操作规范 2025-09-08
- T/CIEP 0222-2025 锂渣替代建材用机制砂技术要求 2025-08-29