SJ 2215.14-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电压的测试方法
SJ 2215.14-1982 Method of measurement for input-to-output isolation voltage of semiconductor photocouplers
基本信息
标准号
SJ 2215.14-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位:
- -
- 起草人:
- -
- 出版信息:
- 页数:1页 | 字数:- | 开本: -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- DB34/T 5091-2025 大豆苗情监测技术规范 2025-01-24
- DB34/T 4999-2025 秋月梨栽培技术规程 2025-01-24
- DB34/T 5088-2025 慈姑栽培技术规程 2025-01-24
- DB34/T 5087-2025 江淮中籼杂交稻机插缓混一次施肥技术规程 2025-01-24
- DB34/T 5089-2025 大棚韭菜栽培技术规程 2025-01-24
- DB34/T 4998-2025 公路桥梁体外预应力拉索技术指南 2025-01-24
- DB34/T 5086-2025 祁门豆花鸡 2025-01-24
- DB34/T 5084-2025 芝麻主要病虫害绿色防控技术规程 2025-01-24
- DB34/T 5085-2025 生菜栽培技术规程 2025-01-24
- DB34/T 5090-2025 叶用芥菜栽培技术规程 2025-01-24