SJ 2215.14-1982 半导体光耦合器入出间绝缘电压的测试方法
SJ 2215.14-1982 Method of measurement for input-to-output isolation voltage of semiconductor photocouplers
基本信息
标准号
SJ 2215.14-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位:
- -
- 起草人:
- -
- 出版信息:
- 页数:1页 | 字数:- | 开本: -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/CEAC 087-2024 低温等离子体辅助的轻质烷烃催化液化方法 2024-12-25
- T/HZGY 003-2024 化妆品CMF设计与评价规范 2024-07-19
- T/CI 305-2024 海参肽原料质量要求 2024-03-21
- T/SXQCA 003-2024 火炸药毒性评价规范 急性毒性替代试验方法 2024-12-27
- T/CCECTA 0102-2022 硝酸磷肥单位产品能源消耗限额 2022-12-28
- T/JTAIT 27-2024 工业用金属孔网管骨架聚丙烯复合管 2024-12-27
- T/CISIA 007-2024 金属铬冶炼渣副产铬刚玉原料 1970-01-01
- T/BYXT 123-2024 沸石抑菌去污粉 2024-10-21
- T/CISIA 008-2024 电子级过硫酸盐 1970-01-01
- T/NPCA 03-2023 EO/EG装置用致稳剂 甲烷氢 1970-01-01