SJ 2215.11-1982 半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法
SJ 2215.11-1982 Method of measurement for pulse rise fall delay and storage time of semiconductor photocouplers
基本信息
标准号
SJ 2215.11-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
研制信息
- 起草单位：
- -
- 起草人：
- -
- 出版信息：
- 页数：2页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/TAF 177.2-2023 新型进网许可标志管理规范 第2部分：实物打印设备 2023-08-07
- T/UWA 012.4-2022 “百城千屏”超高清视音频传播系统专业解码器技术要求 2022-02-16
- T/ZGTXXH 014-2022 5G网络干扰分类与测量方法 2022-03-25
- T/SZIOT 009-2021 共生调频数字广播技术规范 2021-02-19
- T/ZAII 041-2022 现勘无线基站信息采集设备 2022-11-29
- T/SZEIA 013-2023 二手手机交易规范 2023-09-04
- T/SHV2X 2-2023 支持高级别自动驾驶的5G网络性能要求 2023-08-21
- T/ZKJXX 00001-2023 北斗卫星导航系统智能手表技术规范 1970-01-01
- T/SCSTXXH 6-2023 四川省通信机房市电直接供电规范 2023-12-11
- T/TAF 178-2023 具有通信功能的电子墨水屏终端 智能学生证技术要求和测试方法 2023-08-07