SJ 2215.11-1982 半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法
SJ 2215.11-1982 Method of measurement for pulse rise fall delay and storage time of semiconductor photocouplers
基本信息
标准号
SJ 2215.11-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
研制信息
- 起草单位：
- -
- 起草人：
- -
- 出版信息：
- 页数：2页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- DB34/T 3894-2021 增强铝基复合材料 术语 2021-06-08
- DB34/T 3897-2021 安徽科技大市场运营服务规范 2021-06-08
- DB34/T 3898-2021 强制隔离戒毒人员康复训练规范 2021-06-08
- DB34/T 3902-2021 母婴生活护理员等级评定规范 2021-06-08
- DB34/T 3896-2021 高新技术企业培育服务规范 2021-06-08
- DB34/T 3900-2021 员工制家政企业管理规范 2021-06-08
- DB34/T 3895-2021 转移、倾倒和填埋固体废物类环境事件快速监测技术规程 2021-06-08
- DB34/T 3903-2021 寄递企业风险管控基本规范 2021-06-08
- DB34/T 3904-2021 省级烈士纪念设施评定规范 2021-06-08
- DB34/T 3899-2021 人像摄影旅游拍摄服务规范 2021-06-08