SJ 2215.8-1982 半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法
SJ 2215.8-1982 Method of measurement for output saturation voltage of semiconductor photocouplers (diodes)
基本信息
标准号
SJ 2215.8-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位：
- -
- 起草人：
- -
- 出版信息：
- 页数：1页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/ZQBJXH 012-2020 计量保证体系评价规范 2020-06-29
- T/BEA 43002-2023 朗缪尔单探针等离子体测试仪校准规范 2023-02-20
- T/CAQ 20201-2022 机电产品 基于三维模型的数字化检验实施指南 2022-06-08
- T/GDCKCJH 027-2020 稀土掺杂激光玻璃光吸收和荧光特性测试方法 2020-08-28
- T/IMAS 001.1-2019 智能电能表技术规范 第1部分：三相自适应智能电能表技术要求 2019-12-11
- T/CIPR 084-2023 物理电阻实验仪 2023-02-20
- T/CMA 034-2021 微机盐含量测定仪校准方法 2021-05-20
- T/REIANM 0303-2022 烧结钕铁硼永磁合金粉 密度的测试方法：第2部分：振实密度的测定 2022-07-04
- T/CIMA 0060-2023 电能录波器 2023-05-29
- T/SBX 082-2023 冰箱温度计校准规范 2023-09-06