SJ 2215.7-1982 半导体光耦合器集电极-发射极反向击穿电压的测试方法
SJ 2215.7-1982 Method of measurement for collector-emitter reverse breakdown voltage of semiconductor photocouplers (diodes)
基本信息
标准号
SJ 2215.7-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位:
- -
- 起草人:
- -
- 出版信息:
- 页数:1页 | 字数:- | 开本: -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/FDSA 0179-2026 组织工程产品 面部硬组织畸形用组织工程软骨人体移植后评估要求 2026-07-08
- T/GDPMAA 0029-2026 可穿戴设备在心血管疾病监测中的临床应用规范 2026-06-30
- T/CAQ 29048-2026 品质中药材 水蛭 2026-07-08
- T/GARIRPA 044-2026 中药材 重金属的测定 超级微波消解-电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS) 2026-07-03
- T/NMRJ 134-2026 一次性腹壁穿刺缝合器 2026-07-06
- T/GDAQI 205-2026 医用呼吸机反向气体泄漏测试方法 2026-07-01
- T/CNDIA 5-2026 生物制造 医药研发中试平台建设通则 2026-06-29
- T/ZGCIT 117-2026 中药炮制智能化控制技术规范 2026-07-07
- T/CNMN 084-2026 医用植入物用钛合金安全规范 2026-06-26
- T/HZBX 123-2026 中药标本管理规范 2026-07-02