SJ 2215.7-1982 半导体光耦合器集电极-发射极反向击穿电压的测试方法
SJ 2215.7-1982 Method of measurement for collector-emitter reverse breakdown voltage of semiconductor photocouplers (diodes)
基本信息
标准号
SJ 2215.7-1982
标准类型
行业标准-电子
标准状态
废止
发布日期
1982-11-30
实施日期
1983-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1982年11月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位:
- -
- 起草人:
- -
- 出版信息:
- 页数:1页 | 字数:- | 开本: -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/TDIA 00009-2022 基于数字孪生的新型智慧城镇建设技术规范 (第1部分:数字城镇底座) 2022-01-30
- T/ZS 0273.3-2022 CIM 数据交付规范 第 3 部分:建筑工程 BIM 数据 2022-05-10
- T/CIATCM 028.3-2019 中医医院护理管理信息基本数据集 第3部分:护理业务资源管理 2019-03-20
- T/CIDA 0004-2020 灌区水循环动力学模拟仿真云平台技术规程 2020-08-24
- T/SDIRAA 318-2022 健康养老软件数据集编制规范 2022-03-30
- T/CSMPTE 7-2020 电视台信息系统运行维护服务能力成熟度模型及评估细则 2020-08-07
- T/SIOT 324-2022 智慧健康养老 慢性病管理系统总体要求 2022-11-10
- T/ZSEIA 002-2019 信息技术 排污许可证管理平台环保税申报协议 2019-10-24
- T/CICE 004-2023 汽车网络营销技术服务职业能力评价规范 第 3 部分:汽车直播营销师 2023-07-26
- T/NBIA 003-2021 区块链通用技术规范 2021-11-29