国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
29 电气工程
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
-
现行
译：SJ/T 12071-2025 Semiconductor Devices Differentiated Devices Silicon Carbide Diodes Class Specification【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.10二极管 【中国标准分类号(CCS)】 ：L41半导体二极管发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2025-12-19 | 实施时间： 2026-07-01收藏 -
现行
译：SJ/T 12070-2025 Semiconductor Devices, Discrete Devices, Reliability Test Method for Silicon Carbide Diodes【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.10二极管 【中国标准分类号(CCS)】 ：L41半导体二极管发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2025-12-19 | 实施时间： 2026-07-01收藏
-
现行
译：SJ/T 12069-2025 Semiconductor Devices, Discrete Devices, Silicon Carbide Diode Electrical Parameter Test Method【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.10二极管 【中国标准分类号(CCS)】 ：L41半导体二极管发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2025-12-19 | 实施时间： 2026-07-01收藏
-
现行
译：SJ/T 11845.3-2022 Low-frequency noise parameter-based reliability evaluation method for electronic components Part 3: Diodes. (English translation only)【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.10二极管 【中国标准分类号(CCS)】 ：L41半导体二极管发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2022-10-20 | 实施时间： 2023-01-01收藏
-
现行
译：SJ/T 2215-2015 Semiconductor photoelectric coupler testing method【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.10二极管 【中国标准分类号(CCS)】 ：L50/54光电子器件发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2015-04-30 | 实施时间： 2015-10-01收藏
-
现行
译：SJ/T 10031-1991 Detail specification for electronic component--Currect regulator diodes,Type 2DH1-14【国际标准分类号(ICS)】 ：31.080.10二极管 【中国标准分类号(CCS)】 ：L41半导体二极管发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 1991-04-08 | 实施时间： 1991-07-01收藏
现行
现行