适用范围：本文件规定了几何精度检测与验证的基本概念、测量基础、术语、符号、测量条件和测量程序等内容。 本文件适用于产品的尺寸、形状、位置、表面结构等几何特征的检测与验证。

适用范围：本文件规定了测量结果的不确定度评估的操作。提供了针对产品尺寸和几何公差检测与验证过程中不确定度的评估方法，给出了根据不确定度管理程序（PUMA）对检验验证过程优化的应用规范。 本文件适用于几何产品的尺寸、形状、方向、位置等几何特征的检测与验证。

适用范围：本文件规定了尺寸验收及几何误差的评定操作。针对不同的目标任务（离线、在线检验），给出了产品尺寸合格性评定、几何误差评定方法以及相关缺省原则和形状误差、方向误差、位置误差的最小区域判别法。 本文件适用于产品的尺寸、形状、方向、位置、跳动等几何特征的检测与验证。

适用范围：本文件规定了应用最大实体要求和最小实体要求的检测与验证过程一般规定及检测用夹具设计的一般要求。 本文件适用于采用功能量规和夹具对应用最大实体要求、最小实体要求时的被测要素和/或基准要素的检测与验证。

适用范围：本文件规定了形状、方向、位置、跳动和轮廓度特征检测与验证的一般规定、检验操作集、测量不确定度评估和合格评定等内容。 本文件适用于形状、方向、位置、跳动和轮廓度特征的检测与验证。

适用范围：本文件规定了圆柱直角尺、矩形直角尺、刀口矩形直角尺、三角形直角尺、刀口形直角尺、宽座刀口形直角尺、平面形直角尺、带座平面形直角尺和宽座直角尺（统称“直角尺”）的术语和定义﹑型式与基本参数﹑要求、检验条件、检验方法、标志与包装等。本文件适用于测量面长度为50 mm~1 600 mm的直角尺。

适用范围：本标准规定了杠杆指示表最重要的设计和计量特性。

适用范围：本标准规定了机械指示表最重要的设计和计量特性。

适用范围：GB/T 18779的本部分规定了评估检测值不确定度的概念及术语。在GPS指示式测量仪器的检验检测中，根据机构间达成的检测协议，通过仪器得到检测值。 注： 检测值不确定度与测量工件时由指示式测量仪器引起的测量不确定度是不同的。GB/T 18779的本部分中仅涉及前者。后者参见JJF 1059.1和GB/T 18779.2。 当指示式测量仪器的检验包含了多个检测值时，有些与仪器示值有关，另一些与其他计量特性有关，GB/T 18779的本部分仅涉及前者。 本部分规定了检测协议确定后如何评估检测值不确定度，不涉及规定检测协议的适用性。 本部分适用于GPS通用标准(见GB/T 20308)中涉及指示式测量仪器的所有规范。

适用范围：GB/T 18779的本部分给出了当GB/T 18779.1的缺省规则可能在经济方面不是最优的情况下的判定规则。 注1：GB/T 18779.1提供了一个缺省判定规则，按照该规则，如果测得值表征接受某产品，则具有很高的概率可以保证，该产品的相应被测量符合规范。 注2： 将判定规则由缺省规则改成针对特定任务的规则，需要有关双方达成协议。 本部分不涉及如何确定正确判定或错误判定的成本(“正确判定”是指接受合格品或者拒收不合格品，“错误判定”是指接受不合格品或拒收合格品)，因为这是商务事宜。然而，本部分给出了组织机构所需的术语和要求，用于沟通和执行特定的判定规则，同时给出了指导应用的示例。 注3： 本部分判定规则适用于处于考虑中的单一计量特性。除非另有说明，本部分所讨论的所有概率分布均为高斯分布且位于中心位置，而且成本函数是简单阶跃函数。然而，本部分的原则可应用于任何概率分布函数或成本函数。 本部分适用于产品几何技术规范中工件与测量设备的测量检验，工业应用中也同样适用。

适用范围：本标准规定了微纳米标准样板（几何量）的术语和定义、型式与基本参数、要求、检查条件、检查方法、标志、运输及储存等。 本标准适用于线间隔为0.05 μm~10 μm的微纳米线间隔标准样板、台阶高度为0.01 μm~100 μm的微纳米台阶高度标准样板、薄膜厚度为2 nm~1 000 nm的纳米膜厚标准样板和线宽为25 nm~1 000 nm的纳米线宽标准样板。

适用范围：本标准规定了尖头千分尺（不包括电子数显尖头千分尺）的术语和定义﹑型式与基本参数﹑要求﹑检验方法、标志与包装。本标准适用于分度值为0.01 mm、0.001 mm、0.002 mm、0.005 mm，测微头量程为25 mm，测量范围上限至100 mm的尖头千分尺（不包括电子数显尖头千分尺）。

适用范围：本标准规定了电子数显外径千分尺的术语和定义、型式与基本参数、要求、检验方法、试验方法、标志与包装。  本标准适用于分辨力为0.001 mm，量程小于或等于50 mm，测量范围上限至1 000 mm的电子数显外径千分尺（以下简称“电子数显千分尺”）。

适用范围：本标准规定了电子数显内径千分尺的术语和定义﹑型式与基本参数﹑要求﹑检验方法、试验方法、标志与包装。本标准适用于分辨力为0.001 mm，量程小于或等于100 mm，测量范围上限至1 000 mm的电子数显内径千分尺。测量范围1 000 mm~6 000 mm的A型电子数显内径千分尺参见附录A。

适用范围：本标准规定了三爪内径千分尺（不包括电子数显三爪内径千分尺）的术语和定义、型式与基本参数、要求、检验条件、检验方法、标志与包装。 本标准适用于分度值为0.001 mm、0.005 mm，测量范围上限至300 mm的标尺读数和数字读数三爪内径千分尺（不包括电子数显三爪内径千分尺）。

适用范围：本标准规定了深度千分尺（不包括电子数显深度千分尺）的术语和定义﹑型式与基本参数﹑要求、检验条件、检验方法、标志与包装。 本标准适用于分度值为0.01 mm、0.005 mm、0.001 mm，测微头量程为25 mm、50 mm，测量范围上限至300 mm的标尺读数和数字读数深度千分尺（不包括电子数显深度千分尺）。

适用范围：本标准规定了特殊结构的电子数显外径千分尺的术语和定义﹑通用型式与基本参数﹑通用要求﹑通用检验方法、特殊型式和参数以及特殊要求与检验方法、试验方法、标志与包装。本标准适用于分辨力为0.001 mm，量程小于或等于25 mm，测量范围上限至500 mm的特殊结构的电子数显外径千分尺（以下简称“特殊电子千分尺”）。

适用范围：本标准规定了外径千分尺（不包括电子数显外径千分尺）的术语和定义﹑型式与基本参数﹑要求﹑检验方法以及标志与包装。 本标准适用于分度值为0.01 mm、0.001 mm、0.002 mm，测量范围上限至1 000 mm的外径千分尺（不包括电子数显外径千分尺）。

适用范围：本标准规定了π尺的术语和定义、型式与基本参数、要求、检验条件、检验方法、标志与包装。本标准适用于分度值为0.01 mm、0.02 mm和0.05 mm，直径测量范围为9 mm~5 000 mm的π尺。

适用范围：本标准规定了电子数显测微头和电子数显深度千分尺的术语和定义﹑型式与基本参数﹑要求﹑检验方法、试验方法、标志与包装。 本标准适用于分辨力为0.001 mm，量程小于或等于50 mm的电子数显测微头和测量范围上限至300 mm的电子数显深度千分尺。