适用范围：本文件规定了使用电子探针定量分析无水碳酸盐矿物的仪器设备及材料、参考物质、试样制备、分析步骤、元素含量的计算、结果处理和分析报告。本文件适用于无水碳酸盐矿物的X射线波谱仪定量分析。

适用范围：本文件规定了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜(TEM/STEM)测定集成电路芯片中功能薄膜层厚度的方法。本文件适用于测定几个纳米以上厚度的集成电路芯片中功能薄膜层。

适用范围：本文件描述了用透射电子显微术测定线状晶体表观生长方向的方法。 本文件适用于通过各种方法制备的所有种类的线状晶体材料，也适用于测定在钢、合金和其他材料中析出的类似于棒状或多边形第二相颗粒的一个轴的方向。受透射电子显微镜（TEM)的加速电压和样品自身等条件的制约，本文件适用于直径（或厚度或宽度)为几十纳米到一百纳米左右的晶体材料。本文件不适用于测定折叠、扭曲、旋转状态的线状晶体。 注： 在本文件中，线状晶体、带状晶体、针状第二相颗粒等均属于广义上的线状晶体。

适用范围：本文件规定了可见光波段范围内工作的月球与行星原位探测相机的功能指标、性能指标、环境适应性等技术要求，描述了对应的测试及试验方法。本文件适用于可见光波段范围内工作的月球与行星原位探测相机的设计、测试及试验研制过程。紫外和红外波段下的月球与行星原位探测相机研制参照使用。

适用范围：本文件规定了用层状材料截面像所记录的两种不同材料之间平均界面位置的测定方法。本文件适用于透射电子显微镜（TEM）或扫描透射电子显微镜（STEM）所记录的层状材料截面像和X射线能谱仪（EDS）或者电子能量损失谱仪（EELS）所记录的截面元素面分布图。也适用于由数码相机、电脑存储器和成像板图像传感器所采集的数字像以及胶片记录的模拟像经扫描仪转换的数字像。本文件不适用于测定多层模拟法（MSS）获得的界面位置。

适用范围：本文件界定了在光学显微术领域和光学显微术的先进技术中使用的术语和定义。 本文件适用于光学显微镜标准制定、技术文件编制、教材和书刊编写及文献翻译等。

适用范围：本文件界定了数字成像显示显微镜提供给用户的成像性能信息的术语和定义、符号和缩略语，并规定了放大率、极限分辨本领、有效放大范围、物方视场、景深及制造商提供给用户的信息。  本文件适用于数字成像显示显微镜的设计、制造和质量评定。

适用范围：本文件描述了大功率LED(HPLED)的光度、辐射度和色度参数等光学参数的测量方法。本文件适用于以结温为参考温度的HPLED的实验室光学测量。本文件适用于可见光HPLED的光学测量，非可见光LED的光学测量可参考本文件。本文件适用于直流供电的单芯、多芯HPLED［诸如高压LED(HVLED)和基板式LED(COB LED)］的光学测量。本文件不适用于交流驱动型LED、有机发光二极管(OLED)、LED模组、LED光引擎、LED灯和LED灯具等LED产品的光学测量。

适用范围：本文件描述了利用透射电子显微镜图像处理和分析技术进行纳米颗粒在多相体系中分散的粒径测量方法。本文件适用于固相多相体系中纳米颗粒的粒径测量和粒径分布。本文件也适用于在样品制备满足透射电子显微镜观察要求时的胶体和生物组织中纳米颗粒粒径测量。

适用范围：本文件规定了减反射膜的光学特性、机械性能、化学稳定性和环境适应性的基本要求。本文件适用于光学领域应用的减反射膜。本文件既可以满足薄膜制造商选择材料和制备方法的要求，也可以使用户准确理解该薄膜产品的相关量化规定。

适用范围：本文件描述了低压与低温、大气温度、高温或湿热综合试验的环境试验方法。 本文件适用于光学和光子学仪器以及来自其他领域附属组件（如机械、化学和电子设备)的低压与低温、大气温度、高温或湿热综合试验。

适用范围：本文件规定了金属反射膜的光学特性、机械性能、化学稳定性和环境适应性的基本要求。本文件适用于光学领域应用的基于铝或银的金属反射膜。本文件既满足薄膜制造商选择材料和制备方法的要求，也使用户准确理解该薄膜产品的相关量化规定。

适用范围：本文件描述了光学和光子学含二氧化硫、硫化氢的湿空气试验的环境试验方法。 本文件适用于光学和光子学仪器以及来自其他领域的组件（如机械、化学和电子设备)的含二氧化硫、硫化氢的湿空气试验。

适用范围：本文件规定了中性分束膜的光学特性、机械性能、化学稳定性和环境适应性的基本要求。本文件适用于光学领域应用的中性分束膜。本文件既能满足薄膜制造商选择材料和制备方法的要求，也能使用户准确理解该薄膜产品的相关量化规定。

适用范围：本文件规定了光学和光子学环境试验方法的术语和定义、试验程序及环境试验标记。 本文件适用于有关光学和光子学仪器，其他领域(如机械、化学和电子设备)参照执行。

适用范围：本文件描述了光学和光子学长霉试验的环境试验方法。 本文件适用于光学和光子学仪器，包括来自其他领域的组件（如机械、化学和电子设备）的长霉试验。 本文件不适用于常规生产检查。

适用范围：本文件描述了光学和光子学滴水、淋雨试验的环境试验方法。 本文件适用于光学和光子学仪器，包括来自其他领域（如机械、化学和电子设备)的滴水、淋雨试验。

适用范围：本文件描述了光学和光子学露、霜、冰试验的环境试验方法。 本文件适用于光学和光子学仪器以及来自其他领域的组件（如机械、化学和电子设备）的露、霜、冰试验。

适用范围：本文件描述了光学和光子学砂尘的环境试验方法。 本文件适用于光学和光子学仪器，包括来自其他领域的组件（如机械、化学和电子设备)的砂尘试验。 本文件不适用于对粗粒砂尘耐磨性的试验。

适用范围：本文件描述了光学和光子学低温、高温、湿热试验的环境试验方法。 本文件适用于光学和光子学仪器包括来自其他领域附属组件（如机械、化学和电子设备）的低温、高温与湿热试验。