国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
29 电气工程
31 电子学
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
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即将实施
译：GB/T 17722-2026 Microbeam analysis—Method for thickness measurement on goldcoating layer by SEM适用范围：本文件描述了用扫描电镜测量各类金制品中金覆盖层厚度的方法。 本文件适用于25 nm~50μm 的金覆盖层厚度的测定。其他厚度金覆盖层的测量参照执行。 注:实际可测量的最小厚度受扫描电镜的图像分辨率、放大倍数等设备性能参数以及试样制备技术、导电性等影响。【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2026-01-28 | 实施时间： 2026-08-01收藏 -
废止
译：GB 7667-2003 The dose of X-rays leakage from electron microscope【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2003-11-20 | 实施时间： 2004-05-01收藏
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被代替
译：GB/T 15246-2002 Quantitative analysis of sulfide minerals by electron probe microanalysis【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-11-11 | 实施时间： 2003-06-01收藏
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被代替
译：GB/T 18735-2002 General specification of nanometer thin standard specimen for analytical transmission electron microscopy(AEM/EDS)【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2002-05-22 | 实施时间： 2002-12-01收藏
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现行
译：GB/T 17722-1999 Gold-plated thickness measurement by SEM【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1999-04-11 | 实施时间： 1999-12-01收藏
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被代替
译：GB/T 17723-1999 Surface composition analysis method of gold-plated products by EDX【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1999-04-11 | 实施时间： 1999-12-01收藏
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被代替
译：GB/T 17506-1998 The method of electron probe microanalysis as corrosive layer on ferrous metals of ship【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-10-16 | 实施时间： 1999-07-01收藏
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被代替
译：GB/T 17507-1998 General specification of thin biological standards for X-Ray EDS microanalysis in electron microscope【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-10-16 | 实施时间： 1999-07-01收藏
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被代替
译：GB/T 17359-1998 General specification of X-ray EDS Quantitative analysis for EPMA and SEM【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-05-08 | 实施时间： 1998-12-01收藏
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被代替
译：GB/T 17363-1998 Method of quantitative electron probe microanalysis on gold products【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-05-08 | 实施时间： 1998-12-01收藏
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被代替
译：GB/T 17362-1998 Nondestructive method of X-ray EDS analysis with SEM for gold jewelry【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-05-08 | 实施时间： 1998-12-01收藏
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被代替
译：GB/T 17361-1998 Identification method of authigenic clay mineral in sedimentary rock by SEM and XEDS【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-05-08 | 实施时间： 1998-12-01收藏
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被代替
译：GB/T 17365-1998 Method of preparation for samples of metal and alloy in electron probe microanalysis【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-05-08 | 实施时间： 1998-12-01收藏
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被代替
译：GB/T 17364-1998 Non-damage quantitative analysis of gold content in gold products【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-05-08 | 实施时间： 1998-12-01收藏
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被代替
译：GB/T 17366-1998 Methods of mineral and rock specimen preparation for EPMA【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-05-08 | 实施时间： 1998-12-01收藏
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被代替
译：GB/T 17360-1998 Method of quantitative electron probe microanalysis on low contents of Si and Mn in steels【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-05-08 | 实施时间： 1998-12-01收藏
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废止
译：GB 7667-1996 The dose of X-rays leakage from electron microscope【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1996-08-13 | 实施时间： 1996-12-01收藏
即将实施
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现行
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废止